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TBA4045055DB010000-13.0M

产品描述Clipped Sine Output Oscillator, 13MHz Nom, ROHS COMPLIANT, CERAMIC, LCC-10
文件大小101KB,共7页
制造商Pletronics
标准  
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TBA4045055DB010000-13.0M概述

Clipped Sine Output Oscillator, 13MHz Nom, ROHS COMPLIANT, CERAMIC, LCC-10

TBA4045055DB010000-13.0M规格参数

参数名称属性值
是否无铅不含铅
是否Rohs认证符合
Objectid1077430644
Reach Compliance Codecompliant
其他特性TAPE AND REEL
老化1 PPM/FIRST YEAR
频率调整-机械NO
频率稳定性1%
JESD-609代码e4
制造商序列号TBA4
安装特点SURFACE MOUNT
标称工作频率13 MHz
最高工作温度45 °C
最低工作温度-5 °C
振荡器类型CLIPPED SINE
输出阻抗10000 Ω
输出电平0.8 V
物理尺寸7.0mm x 5.0mm x 1.88mm
最大供电电压5.5 V
最小供电电压4.5 V
表面贴装YES
端子面层Gold (Au) - with Nickel (Ni) barrier

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TBA4 Series
TCXO / TCVCXO
November 2010
• Pletronics’ TBA4 Series is a temperature
compensated crystal oscillator with an optional
voltage control function and a clipped sinewave
output.
• The package is designed for high density
surface mount designs.
• Tape and Reel packaging is available.
8 to 52 MHz
Stabilities to less than 0.2ppm available
5 x 7 mm LCC Ceramic Package
Optional Voltage Control Function (TCVCXO)
Commonly available frequencies (MHz):
8.192
19.200
10.000
19.440
12.000
20.000
12.800
24.000
13.000
25.000
16.384
26.000
Pletronics Inc. certifies this device is in accordance with the
RoHS 6/6 (2002/95/EC) and WEEE (2002/96/EC) directives.
Pletronics Inc. guarantees the device does not contain the following:
Cadmium, Hexavalent Chromium, Lead, Mercury, PBB’s, PBDE’s
Weight of the Device: 0.3 grams
Moisture Sensitivity Level: 1 As defined in J-STD-020C
Second Level Interconnect code: e4
Absolute Maximum Ratings:
Parameter
V
CC
Supply Voltage
Vi
Vo
Input Voltage
Output Voltage
Unit
-0.5V to +6.5V
-0.5V to V
CC
+ 0.5V
-0.5V to V
CC
+ 0.5V
Thermal Characteristics
The maximum die or junction temperature is 155
o
C
The thermal resistance junction to board is 30 to 50
o
C/Watt depending on the solder pads, ground plane
and construction of the PCB.
Product information is current as of publication date. The product conforms
to specifications per the terms of the Pletronics standard warranty. Production
processsing does not neccesarily include testing of all parameters.
Copyright © 2010, Pletronics Inc.
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