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LV9945DCV-FREQ-T1K

产品描述LVDS Output Clock Oscillator, 10.9MHz Min, 670MHz Max, ROHS COMPLIANT, CERAMIC, LCC-6
产品类别无源元件    振荡器   
文件大小111KB,共8页
制造商Pletronics
标准  
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LV9945DCV-FREQ-T1K概述

LVDS Output Clock Oscillator, 10.9MHz Min, 670MHz Max, ROHS COMPLIANT, CERAMIC, LCC-6

LV9945DCV-FREQ-T1K规格参数

参数名称属性值
是否无铅不含铅
是否Rohs认证符合
厂商名称Pletronics
包装说明ROHS COMPLIANT, CERAMIC, LCC-6
Reach Compliance Codecompliant
其他特性ENABLE/DISABLE FUNCTION; TAPE AND REEL
最长下降时间0.23 ns
频率调整-机械NO
频率稳定性50%
JESD-609代码e4
制造商序列号LV99D
安装特点SURFACE MOUNT
最大工作频率670 MHz
最小工作频率10.9 MHz
最高工作温度70 °C
最低工作温度-40 °C
振荡器类型LVDS
输出负载50 OHM
物理尺寸7.0mm x 5.0mm x 1.7mm
最长上升时间0.23 ns
最大供电电压3.63 V
最小供电电压2.97 V
标称供电电压3.3 V
表面贴装YES
最大对称度53/47 %
端子面层Gold (Au) - with Nickel (Ni) barrier

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LV99D Series 3.3 V
LVDS Clock Oscillators
April 2010
• Pletronics’ LV99D Series is a quartz crystal
controlled precision square wave generator with
an LVDS output.
• The package is designed for high density surface
mount designs.
• Low cost mass produced oscillator.
• Tape and Reel or cut tape packaging is available.
5 x 7 mm LCC Ceramic Package
Enable/Disable Function on pad 1
Output frequency is synthesized.
Low Jitter
Pletronics Inc. certifies this device is in accordance with the
RoHS 6/6 (2002/95/EC) and WEEE (2002/96/EC) directives.
Pletronics Inc. guarantees the device does not contain the following:
Cadmium, Hexavalent Chromium, Lead, Mercury, PBB’s, PBDE’s
Weight of the Device: 0.16 grams
Moisture Sensitivity Level: 1 As defined in J-STD-020C
Second Level Interconnect code: e4
Absolute Maximum Ratings:
Parameter
V
CC
Supply Voltage
Vi
Vo
Input Voltage
Output Voltage
Unit
-0.5V to +5.0V
-0.5V to V
CC
+ 0.5V
-0.5V to V
CC
+ 0.5V
Thermal Characteristics
The maximum die or junction temperature is 155
o
C
The thermal resistance junction to board is 30 to 50
o
C/Watt depending on the solder pads, ground plane
and construction of the PCB.
Product information is current as of publication date. The product conforms
to specifications per the terms of the Pletronics standard warranty. Production
processsing does not necessarily include testing of all parameters.
Copyright © 2010, Pletronics Inc.
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