电子工程世界电子工程世界电子工程世界

关键词

搜索

型号

搜索

NTD4857N-35G

产品描述12 A, 25 V, 0.008 ohm, N-CHANNEL, Si, POWER, MOSFET
产品类别分立半导体    晶体管   
文件大小268KB,共8页
制造商ON Semiconductor(安森美)
官网地址http://www.onsemi.cn
下载文档 详细参数 选型对比 全文预览

NTD4857N-35G概述

12 A, 25 V, 0.008 ohm, N-CHANNEL, Si, POWER, MOSFET

12 A, 25 V, 0.008 ohm, N沟道, 硅, POWER, 场效应管

NTD4857N-35G规格参数

参数名称属性值
Brand NameON Semiconduc
是否无铅不含铅
厂商名称ON Semiconductor(安森美)
包装说明LEAD FREE, CASE 369AC-01, 3 IPAK-3
针数3
制造商包装代码369AD
Reach Compliance Code_compli
ECCN代码EAR99
雪崩能效等级(Eas)144.5 mJ
外壳连接DRAIN
配置SINGLE WITH BUILT-IN DIODE
最小漏源击穿电压25 V
最大漏极电流 (Abs) (ID)78 A
最大漏极电流 (ID)12 A
最大漏源导通电阻0.008 Ω
FET 技术METAL-OXIDE SEMICONDUCTOR
JESD-30 代码R-PSIP-T3
JESD-609代码e3
湿度敏感等级1
元件数量1
端子数量3
工作模式ENHANCEMENT MODE
最高工作温度175 °C
封装主体材料PLASTIC/EPOXY
封装形状RECTANGULAR
封装形式IN-LINE
峰值回流温度(摄氏度)NOT SPECIFIED
极性/信道类型N-CHANNEL
最大功率耗散 (Abs)56.6 W
最大脉冲漏极电流 (IDM)156 A
认证状态Not Qualified
表面贴装NO
端子面层Tin (Sn)
端子形式THROUGH-HOLE
端子位置SINGLE
处于峰值回流温度下的最长时间NOT SPECIFIED
晶体管应用SWITCHING
晶体管元件材料SILICON

文档预览

下载PDF文档
NTD4857N
Power MOSFET
Features
25 V, 78 A, Single N-
-Channel, DPAK/IPAK
Trench Technology
Low R
DS(on)
to Minimize Conduction Losses
Low Capacitance to Minimize Driver Losses
Optimized Gate Charge to Minimize Switching Losses
These are Pb-
-Free Devices
http://onsemi.com
V
(BR)DSS
25 V
R
DS(ON)
MAX
5.7 mΩ @ 10 V
8.0 mΩ @ 4.5 V
D
I
D
MAX
78 A
Applications
VCORE Applications
DC--DC Converters
Low Side Switching
MAXIMUM RATINGS
(T
J
= 25°C unless otherwise stated)
Parameter
Drain--to--Source Voltage
Gate--to--Source Voltage
Continuous Drain
Current R
θJA
(Note 1)
Power Dissipation
R
θJA
(Note 1)
Continuous Drain
Current R
θJA
(Note 2)
Power Dissipation
R
θJA
(Note 2)
Continuous Drain
Current R
θJC
(Note 1)
Power Dissipation
R
θJC
(Note 1)
Pulsed Drain
Current
t
p
=10ms
Steady
State
T
A
= 25°C
T
A
= 85°C
T
A
= 25°C
T
A
= 25°C
T
A
= 85°C
T
A
= 25°C
T
C
= 25°C
T
C
= 85°C
T
C
= 25°C
T
A
= 25°C
T
A
= 25°C
P
D
I
DM
I
DmaxPkg
T
J
,
T
STG
I
S
dV/dt
EAS
P
D
I
D
P
D
ID
Symbol
V
DSS
V
GS
I
D
Value
25
±20
15
11.7
2.1
12
9.3
1.31
78
61
56.6
156
45
--55 to
+175
47
6
144.5
W
A
A
°C
A
V/ns
mJ
4
Drain
YWW
48
57NG
W
A
W
A
1 2
3
Unit
V
V
A
G
S
N-
-CHANNEL MOSFET
4
4
1
4
CASE 369AA
DPAK
(Bent Lead)
STYLE 2
3
CASE 369AC
CASE 369D
3 IPAK
IPAK
(Straight Lead) (Straight Lead
DPAK)
2 3
1
2
MARKING DIAGRAMS
& PIN ASSIGNMENTS
4
Drain
YWW
48
57NG
4
Drain
YWW
48
57NG
Current Limited by Package
Operating Junction and Storage
Temperature
Source Current (Body Diode)
Drain to Source dV/dt
Single Pulse Drain--to--Source Avalanche
Energy (T
J
= 25°C, V
DD
= 50 V, V
GS
= 10 V,
I
L
= 17 A
pk
, L = 1.0 mH, R
G
= 25
Ω)
Lead Temperature for Soldering Purposes
(1/8” from case for 10 s)
T
L
260
°C
2
1 2 3
1 Drain 3
Gate Drain Source
Gate Source
1 2 3
Gate Drain Source
Y
WW
4857N
G
= Year
= Work Week
= Device Code
= Pb--Free Package
Stresses exceeding Maximum Ratings may damage the device. Maximum
Ratings are stress ratings only. Functional operation above the Recommended
Operating Conditions is not implied. Extended exposure to stresses above the
Recommended Operating Conditions may affect device reliability.
ORDERING INFORMATION
See detailed ordering and shipping information in the package
dimensions section on page 6 of this data sheet.
©
Semiconductor Components Industries, LLC, 2010
June, 2010 - Rev. 1
-
1
Publication Order Number:
NTD4857N/D

NTD4857N-35G相似产品对比

NTD4857N-35G NTD4857N
描述 12 A, 25 V, 0.008 ohm, N-CHANNEL, Si, POWER, MOSFET 12 A, 25 V, 0.008 ohm, N-CHANNEL, Si, POWER, MOSFET
元件数量 1 1
端子数量 3 3
表面贴装 NO NO
端子形式 THROUGH-HOLE THROUGH-HOLE
端子位置 SINGLE SINGLE
晶体管应用 SWITCHING SWITCHING
晶体管元件材料 SILICON SILICON
如何合理选用传感器
如何合理选用传感器   现代传感器在原理与结构上千差万别,如何根据具体的测量目的、测量对象以及测量环境合理地选用传感器,是在进行某个量的测量时首先要解决的问题。当传感器确定之后, ......
bibby 测试/测量
关于51单片机的地址
我在课件上看到,STC89C52RC单片机的地址,只有80H-FFH这段地址能用程序来控制, 这就是在REG52.H头文件中被定义了,至于00H-7EH这段是被称为"直接或间接寻址寄存器", 一共分为四个区的,请问这四个 ......
lranseti 嵌入式系统
为什么有集成电路了还要学晶体管电路
一、电路IC化或LSI化的高速发展   现在的IC技术发展可以说是日新月异的。目前我们所能接触到的无论是模拟电路,还是数字电路都能进行IC化或LSI化。例如我们随便打开一台电视机或者计算机,就 ......
Aguilera 模拟与混合信号
基础电子:半导体封装专辑
封装业增速放缓 工艺成本是竞争焦点 (中国电子报) 记者 梁红兵2006-6-20      6月8日,第4届中国半导体封装测试技术与市场研讨会在成都召 开,中国半导体行业协会 ......
fighting 模拟电子
模拟传感器系统的抗干扰措施
一、前言   模拟传感器的应用非常广泛,不论是在工业、农业、国防建设,还是在日常生活、教育事业以及科学研究等领域,处处可见模拟传感器的身影。但在模拟传感器的设计和使用中,都有一个 ......
songbo 传感器

 
EEWorld订阅号

 
EEWorld服务号

 
汽车开发圈

 
机器人开发圈

About Us 关于我们 客户服务 联系方式 器件索引 网站地图 最新更新 手机版

站点相关: 大学堂 TI培训 Datasheet 电子工程 索引文件: 2607  2737  556  2684  1569  32  52  51  15  58 

器件索引   0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z

北京市海淀区中关村大街18号B座15层1530室 电话:(010)82350740 邮编:100190

电子工程世界版权所有 京B2-20211791 京ICP备10001474号-1 电信业务审批[2006]字第258号函 京公网安备 11010802033920号 Copyright © 2005-2026 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved