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NAND01GR3M2AZC5E

产品描述256/512Mb/1Gb (x8/x16, 1.8/3V, 528 Byte Page) NAND Flash Memories + 256/512Mb (x16/x32, 1.8V) LPSDRAM, MCP
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文件大小170KB,共23页
制造商ST(意法半导体)
官网地址http://www.st.com/
标准
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NAND01GR3M2AZC5E概述

256/512Mb/1Gb (x8/x16, 1.8/3V, 528 Byte Page) NAND Flash Memories + 256/512Mb (x16/x32, 1.8V) LPSDRAM, MCP

NAND01GR3M2AZC5E规格参数

参数名称属性值
是否Rohs认证符合
厂商名称ST(意法半导体)
Objectid107065084
Reach Compliance Codeunknow
compound_id181393200
JESD-30 代码R-PBGA-B137
内存集成电路类型MEMORY CIRCUIT
混合内存类型FLASH+SDRAM
端子数量137
最高工作温度85 °C
最低工作温度-30 °C
封装主体材料PLASTIC/EPOXY
封装代码FBGA
封装等效代码BGA137,10X15,32
封装形状RECTANGULAR
封装形式GRID ARRAY, FINE PITCH
电源1.8 V
认证状态Not Qualified
标称供电电压 (Vsup)1.8 V
表面贴装YES
温度等级OTHER
端子形式BALL
端子节距0.8 mm
端子位置BOTTOM

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NAND256-M
NAND512-M, NAND01G-M
256/512Mb/1Gb (x8/x16, 1.8/3V, 528 Byte Page) NAND
Flash Memories + 256/512Mb (x16/x32, 1.8V) LPSDRAM, MCP
Features
Multi-Chip Packages
– 1 die of 256 Mb, 512 Mb (x8/ x16) NAND
Flash + 1 die of 256 Mb (x16) SDR
LPSDRAM
– 1 die of 256 Mb, 512 Mb (x8/ x16) NAND
Flash + 2 dice of 256 Mb (x16) SDR
LPSDRAMs
– 1 die of 256 Mb, 512 Mb (x8/ x16) NAND
Flash +1 die of 256 Mb (x16) DDR
LPSDRAM
– 1 die of 512 Mb (x16) NAND Flash + 1 die
of 256 Mb or 512 Mb (x16) DDR LPSDRAM
Supply voltages
– V
DDF
= 1.7V to 1.95V or 2.5V to 3.6V
– V
DDD
= V
DDQD
= 1.7V to 1.9V
Electronic Signature
ECOPACK
®
packages
Temperature range
– -30 to 85°C
FBGA
TFBGA107 10.5 x 13 x 1.2mm
TFBGA149 10 x 13.5 x 1.2mm
LFBGA137 10.5 x 13 x 1.4mm
TFBGA137 10.5 x 13 x 1.2 mm
(1)
(1) Preliminary specifications.
Fast Block Erase
– Block erase time: 2ms (typ)
Status Register
Data integrity
– 100,000 Program/Erase cycles
– 10 years Data Retention
Flash Memory
NAND Interface
– x8 or x16 bus width
– Multiplexed Address/ Data
Page size
– x8 device: (512 + 16 spare) Bytes
– x16 device: (256 + 8 spare) Words
Block size
– x8 device: (16K + 512 spare) Bytes
– x16 device: (8K + 256 spare) Words
Page Read/Program
– Random access: 15µs (max)
– Sequential access: 50ns (min)
– Page program time: 200µs (typ)
Copy Back Program mode
– Fast page copy without external buffering
LPSDRAM
Interface: x16 or x 32 bus width
Deep Power Down mode
1.8v LVCMOS interface
Quad internal Banks controlled by BA0 and
BA1
Automatic and controlled Precharge
Auto Refresh and Self Refresh
– 8,192 Refresh cycles/64ms
– Programmable Partial Array Self Refresh
– Auto Temperature Compensated Self
Refresh
Wrap sequence: sequential/interleave
Burst Termination by Burst Stop command and
Precharge command
August 2006
Rev 5
1/23
www.st.com
2
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