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NDS9953A

产品描述MOSFET SO-8 P-CH ENHANCE
产品类别分立半导体    晶体管   
文件大小205KB,共7页
制造商Fairchild
官网地址http://www.fairchildsemi.com/
标准
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NDS9953A概述

MOSFET SO-8 P-CH ENHANCE

NDS9953A规格参数

参数名称属性值
是否无铅不含铅
是否Rohs认证符合
厂商名称Fairchild
零件包装代码SOT
包装说明SMALL OUTLINE, R-PDSO-G8
针数8
Reach Compliance Codeunknown
ECCN代码EAR99
配置SEPARATE, 2 ELEMENTS WITH BUILT-IN DIODE
最小漏源击穿电压30 V
最大漏极电流 (Abs) (ID)2.9 A
最大漏极电流 (ID)2.9 A
最大漏源导通电阻0.13 Ω
FET 技术METAL-OXIDE SEMICONDUCTOR
JESD-30 代码R-PDSO-G8
JESD-609代码e3
湿度敏感等级1
元件数量2
端子数量8
工作模式ENHANCEMENT MODE
最高工作温度150 °C
封装主体材料PLASTIC/EPOXY
封装形状RECTANGULAR
封装形式SMALL OUTLINE
峰值回流温度(摄氏度)260
极性/信道类型P-CHANNEL
最大功率耗散 (Abs)2 W
最大脉冲漏极电流 (IDM)10 A
认证状态Not Qualified
表面贴装YES
端子面层Matte Tin (Sn)
端子形式GULL WING
端子位置DUAL
处于峰值回流温度下的最长时间NOT SPECIFIED
晶体管应用SWITCHING
晶体管元件材料SILICON

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February 1996
NDS9953A
Dual P-Channel Enhancement Mode Field Effect Transistor
General Description
These P-Channel enhancement mode power field effect
transistors are produced using Fairchild's proprietary, high
cell density, DMOS technology. This very high density
process is especially tailored to minimize on-state resistance,
provide superior switching performance, and withstand high
energy pulses in the avalanche and commutation modes.
These devices are particularly suited for low voltage
applications such as notebook computer power management
and other battery powered circuits where fast switching, low
in-line power loss, and resistance to transients are needed.
Features
-2.9A, -30V. R
DS(ON)
= 0.13
@ V
GS
= -10V.
High density cell design for extremely low R
DS(ON)
.
High power and current handling capability in a widely used
surface mount package.
Dual MOSFET in surface mount package.
________________________________________________________________________________
5
4
3
2
1
6
7
8
Absolute Maximum Ratings
Symbol
V
DSS
V
GSS
I
D
P
D
Parameter
Drain-Source Voltage
Gate-Source Voltage
Drain Current - Continuous
- Pulsed
T
A
= 25°C unless otherwise noted
NDS9953A
-30
± 20
(Note 1a)
Units
V
V
A
± 2.9
± 10
2
Power Dissipation for Dual Operation
Power Dissipation for Single Operation
(Note 1a)
(Note 1b)
(Note 1c)
W
1.6
1
0.9
-55 to 150
°C
T
J
,T
STG
Operating and Storage Temperature Range
THERMAL CHARACTERISTICS
R
θ
JA
R
θ
JC
Thermal Resistance, Junction-to-Ambient
Thermal Resistance, Junction-to-Case
(Note 1a)
(Note 1)
78
40
°C/W
°C/W
© 1997 Fairchild Semiconductor Corporation
NDS9953A.SAM
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