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NDH8303N

产品描述Dual N-Channel Enhancement Mode Field Effect Transistor
产品类别分立半导体    晶体管   
文件大小56KB,共6页
制造商Fairchild
官网地址http://www.fairchildsemi.com/
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NDH8303N概述

Dual N-Channel Enhancement Mode Field Effect Transistor

NDH8303N规格参数

参数名称属性值
是否Rohs认证不符合
厂商名称Fairchild
零件包装代码SOT
包装说明SMALL OUTLINE, R-PDSO-G8
针数8
Reach Compliance Codeunknow
ECCN代码EAR99
配置SEPARATE, 2 ELEMENTS WITH BUILT-IN DIODE
最小漏源击穿电压20 V
最大漏极电流 (Abs) (ID)3.8 A
最大漏极电流 (ID)3.8 A
最大漏源导通电阻0.035 Ω
FET 技术METAL-OXIDE SEMICONDUCTOR
JESD-30 代码R-PDSO-G8
JESD-609代码e0
元件数量2
端子数量8
工作模式ENHANCEMENT MODE
最高工作温度150 °C
封装主体材料PLASTIC/EPOXY
封装形状RECTANGULAR
封装形式SMALL OUTLINE
极性/信道类型N-CHANNEL
最大功率耗散 (Abs)0.8 W
认证状态Not Qualified
表面贴装YES
端子面层Tin/Lead (Sn/Pb)
端子形式GULL WING
端子位置DUAL
晶体管元件材料SILICON

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May 1997
NDH8303N
Dual N-Channel Enhancement Mode Field Effect Transistor
General Description
SuperSOT
TM
-8 N-Channel enhancement mode power field
effect transistors are produced using Fairchild's proprietary,
high cell density, DMOS technology. This very high density
process is especially tailored to minimize on-state resistance.
These devices are particularly suited for low voltage
applications such as notebook computer power management,
and other battery powered circuits where fast switching, and
low in-line power loss are needed in a very small outline surface
mount package.
Features
3.8 A, 20 V. R
DS(ON)
= 0.035
@ V
GS
= 4.5 V
R
DS(ON)
= 0.045
@ V
GS
= 2.7 V.
Proprietary SuperSOT
TM
-8 package design using copper
lead frame for superior thermal and electrical capabilities.
High density cell design for extremely low R
DS(ON)
.
Exceptional on-resistance and maximum DC current
capability.
____________________________________________________________________________________________
5
6
7
8
4
3
2
1
Absolute Maximum Ratings
T
A
= 25°C unless otherwise noted
Symbol
V
DSS
V
GSS
I
D
P
D
T
J
,T
STG
Parameter
Drain-Source Voltage
Gate-Source Voltage
Drain Current - Continuous
- Pulsed
Maximum Power Dissipation
(Note 1)
(Note 1)
NDH8303N
20
±8
3.8
15
0.8
-55 to 150
Units
V
V
A
W
°C
Operating and Storage Temperature Range
THERMAL CHARACTERISTICS
R
θJA
R
θJC
Thermal Resistance, Junction-to-Ambient
Thermal Resistance, Junction-to-Case
(Note 1)
156
40
°C/W
°C/W
(Note 1)
© 1997 Fairchild Semiconductor Corporation
NDH8303N Rev.C
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