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B43305E2228M80

产品描述cap alum 2200uf 250v 20% snap
产品类别无源元件   
文件大小672KB,共20页
制造商EPCOS (TDK)
标准  
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B43305E2228M80概述

cap alum 2200uf 250v 20% snap

模拟集成电路的测试技术
随着集成电路制造技术的进步,人们已经能制造出电路结构相当复杂、集成度很高、功能各异的集成电路。但是这些高集成度,多功能的集成块仅是通过数目有限的引脚完成和外部电路的连接,这就给判定集成电路的好坏带来不少困难。本文介绍了集成电路的测试技术...
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各位高手,我这UCOS+UCGUI下移植了一个2.4屏的程序到一个3.2屏上显示,但是发现3.2屏上只显示一部分,而且建立的slider在滑动时手指在触摸屏上的位置和slider的位置会差很多,请问是什么原因?2.4屏和3.2屏在编程上有什么区别,由于本人是菜鸟,请各位高手指点!!!谢谢!!!...
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一博科技自媒体高速先生 原创文 | 黄刚玻纤效应是一种有点悬乎的概率事件,它的悬乎性表现为在特定的情况下会发生,一旦发生了就会对高速信号产生非常巨大的影响,而且很难直接排查出来。但是它神奇的地方在于可能会发生又可能不发生,而且同一块板上有些地方会发生。好啦,前奏总要说得引人入胜,大家才有兴趣继续关注的嘛。如果经常看高速先生文章的粉丝们都会知道玻纤效应的概念以及它的表现形式,这里就不再一次又一次的重...
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fefwfWF 嵌入式系统
2410/2440裸奔时MMU以及寄存器访问和植入Wince时候有何不同?
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