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EP20K60EFC672

产品描述Loadable PLD, PBGA672, 27 X 27 MM, 1 MM PITCH, FINE LINE, BGA-672
产品类别可编程逻辑器件    可编程逻辑   
文件大小4MB,共208页
制造商Altera (Intel)
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EP20K60EFC672概述

Loadable PLD, PBGA672, 27 X 27 MM, 1 MM PITCH, FINE LINE, BGA-672

EP20K60EFC672规格参数

参数名称属性值
Objectid1507964315
零件包装代码BGA
包装说明BGA,
针数672
Reach Compliance Codeunknown
ECCN代码3A991.D
最大时钟频率160 MHz
JESD-30 代码S-PBGA-B672
JESD-609代码e1
长度27 mm
专用输入次数4
I/O 线路数量204
端子数量672
最高工作温度85 °C
最低工作温度
组织4 DEDICATED INPUTS, 204 I/O
输出函数MACROCELL
封装主体材料PLASTIC/EPOXY
封装代码BGA
封装形状SQUARE
封装形式GRID ARRAY
可编程逻辑类型LOADABLE PLD
认证状态Not Qualified
座面最大高度2.1 mm
最大供电电压1.89 V
最小供电电压1.71 V
标称供电电压1.8 V
表面贴装YES
温度等级OTHER
端子面层TIN SILVER COPPER
端子形式BALL
端子节距1 mm
端子位置BOTTOM
宽度27 mm

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APEX 20K
®
Programmable Logic
Device Family
Data Sheet
March 2000, ver. 2.06
Features...
Preliminary
Information
s
s
Industry’s first programmable logic device (PLD) incorporating
system-on-a-programmable-chip integration
MultiCore
TM
architecture integrating look-up table (LUT) logic,
product-term logic, and embedded memory
LUT logic used for register-intensive functions
Embedded system block (ESB) used to implement memory
functions, including first-in first-out (FIFO) buffers, dual-port
RAM, and content-addressable memory (CAM)
ESB implementation of product-term logic used for
combinatorial-intensive functions
High density
30,000 to 1.5 million typical gates (see
Table 1)
Up to 51,840 logic elements (LEs)
Up to 442,368 RAM bits that can be used without reducing
available logic
Up to 3,456 product-term-based macrocells
Note (1)
EP20K600E EP20K1000E EP20K1500E
Table 1. APEX 20K Device Features
Feature
EP20K30E EP20K60E EP20K100E EP20K160E EP20K200E EP20K300E EP20K400E
EP20K100
EP20K200
EP20K400
Maximum
system
gates
Typical
gates
LEs
ESBs
Maximum
RAM bits
Maximum
macrocells
Maximum
user I/O
pins
Note:
(1)
113,000 162,000 263,000
404,000
526,000
728,000 1,052,000 1,537,000 1,772,000 2,392,000
30,000
1,200
12
24,576
192
128
60,000
2,560
16
32,768
256
204
100,000
4,160
26
53,248
416
252
160,000
6,400
40
81,920
640
316
200,000
8,320
52
106,496
832
382
300,000
11,520
72
147,456
1,152
408
400,000
16,640
104
212,992
1,664
502
600,000
24,320
152
311,296
2,432
624
1,000,000 1,500,000
38,400
160
327,680
2,560
708
51,840
216
442,368
3,456
808
The embedded IEEE Std. 1149.1 Joint Test Action Group (JTAG) boundary-scan circuitry contributes up to
57,000 additional gates.
Altera Corporation
A-DS-APEX20K-02.06
1
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