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TCM1E156DT

产品描述Tantalum Capacitor, Polarized, Tantalum (dry/solid), 25V, 20% +Tol, 20% -Tol, 15uF, Surface Mount, 2917, CHIP
产品类别无源元件    电容器   
文件大小775KB,共6页
制造商Cal-Chip Electronics
标准  
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TCM1E156DT概述

Tantalum Capacitor, Polarized, Tantalum (dry/solid), 25V, 20% +Tol, 20% -Tol, 15uF, Surface Mount, 2917, CHIP

TCM1E156DT规格参数

参数名称属性值
是否无铅不含铅
是否Rohs认证符合
Objectid1652039688
包装说明, 2917
Reach Compliance Codecompliant
Country Of OriginSouth Korea
ECCN代码EAR99
YTEOL6.92
电容15 µF
电容器类型TANTALUM CAPACITOR
介电材料TANTALUM (DRY/SOLID)
JESD-609代码e3
漏电流0.00375 mA
安装特点SURFACE MOUNT
负容差20%
端子数量2
最高工作温度125 °C
最低工作温度-55 °C
封装形状RECTANGULAR PACKAGE
包装方法TR, EMBOSSED PLASTIC, 7 INCH
极性POLARIZED
正容差20%
额定(直流)电压(URdc)25 V
纹波电流387 mA
尺寸代码2917
表面贴装YES
Delta切线0.06
端子面层TIN OVER NICKEL
端子形状WRAPAROUND

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Cal-Chip
Electronics, Incorporated
TC S
ERIES
TC Series Tantalum Solid Electrolytic Capacitors -
Resin Molded Chip Type, Standard Type
TC S
ERIES
:
The TC Series is designed for hybrid circuit
and low profile printed circuit board applications where
inductance is to be minimized, or where substrate space is
at a premium. They can be attached to substrates or circuit
boards by dipsoldering, welding, re-flow soldering or other
conventional methods. These units have the further advan-
tage of being compatible with automatic assembly equip-
ment-minus the problems associated with flexible terminal
lead wires. Our chip tantalums meet all EIA sizes.
R
ATINGS
Capacitance Range:
Tolerance Range:
Rated Voltage:
0.1µF to 220µF
M(±20%), K(±10%)
4V to 50V
I
TEMS
Operating Temperature Range
Maximum Working Temperature
Rated Voltage Range
Capacitance Range
Standard Capacitance Tolerance
Dissipation factor (tan
δ)
Leakage Current
Temperature
Stability
-55°C
+125°C
Temp.
S
PECIFICATIONS
, P
ERFORMANCE
-55°C~+85°C(+125°C)
+85°C (+125°C with derating)
4 VDC ~ 50 VCD
0.1µF ~ 220µF
±20% (M) ±10%(K)
0.1~1.0µF
1.5~100µF
4.0%
6.0%
T
EST
C
ONDITIONS
See Table of Standard Ratings
JIS-C-5102 20°C 120Hz
JIS-C-5102 20°C 120Hz
JIS-C-5102 20°C (5 minutes)
(after rated voltage applied)
Max. Leakage Current
NA
0.125CV or 6.25µA
whichever is greater
Procedure:
1. 20±2°C
2. -55+0 °C Stabilized
-3
3. 20±2°C 15 min.
4. +125+3 °C 2 hrs.
-0
JIS-C-5140 and 5102 85°C
Not more than 0.01CV or
0.5µA, whichever is greater
C
Max
±12%
Max.
±15%
Max. tan
δ
0.1 ~ 1.0µF 6.0%
1.5 ~ 100µF 8.0%
0.1 ~ 1.0µF 6.0%
1.5 ~ 100µF 8.0%
Less than ±5%
Less than
specified value
Surge Voltage
Solder Heat Resistance
Humidity Test
Capacitance Change
Dissipation Factor
Leakage Current
Surge voltage applied, 1000 times with series
resistance of 1000Ω for 30 seconds at intermittent
intervals of 5 minutes
Withstand solder immersion 5 seconds at
260°C or reflow 10 seconds at 260°C
High Temperature Test
Failure Rate at 85°C
Capacitance Change
Dissipation Factor
Leakage Current
Capacitance Change
Dissipation Factor
Leakage Current
Less than ±5%
Less than initial
specified value
Less than ±10%
Less than initial
specified value
JIS-C-5102
at 60°C humidity 90% ~ 95% RH,
500 Hours
JIS-C-5102
85°C, Rated voltage 2000 hours or 125°C
Derating voltage 1000 hours with circuit
resistance of 1Ω/V
1% per 1,000 hours
MTBF 5 X 10
4
Hr.
31
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