74LVT18512DGGRG4

SN54LVT18512、SN54LVT182512、SN74LVT18512和SN74LVT182512是德州仪器（TI）SCOPE测试性产品系列中的3.3V ABT扫描测试器件，集成了18位通用总线收发器功能。这些器件采用先进的3.3V ABT设计，支持混合模式信号操作，兼容5V输入和输出电压，同时工作电压范围宽至2.7V至3.6V，适用于未调节电池供电环境。器件属于Widebus系列，提供高性能总线接口解决方案，适用于工业控制、通信系统和嵌入式设备等应用场景。 在正常操作模式下，器件作为18位通用总线收发器，可配置为两个独立的9位收发器或单一18位单元。数据流向由输出使能（OEAB、OEBA）、锁存使能（LEAB、LEBA）和时钟（CLKAB、CLKBA）输入精确控制，支持透明、锁存或时钟模式的数据传输。测试模式下，通过IEEE Std 1149.1-1990（JTAG）兼容的4线测试访问端口（TAP），包括TDI、TDO、TMS和TCK，激活边界扫描架构。该模式支持SAMPLE/PRELOAD、EXTEST等标准指令，以及并行签名分析（PSA）和伪随机模式生成（PRPG）等高级测试功能，不影响正常功能操作。 器件提供64引脚塑料薄收缩小外形（DGG）和64引脚陶瓷双扁平（HKC）封装选项，采用0.5mm中心间距设计。SN54系列适用于军事温度范围（-55°C至125°C），而SN74系列针对工业温度范围（-40°C至85°C）优化。'LVT182512型号的B端口输出集成了等效25Ω串联电阻，简化电路设计并减少信号完整性问题。