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FPD1000ASSR

产品描述RF Power Field-Effect Transistor, 1-Element, L Band, Gallium Arsenide, N-Channel, High Electron Mobility FET, ROHS COMPLIANT, AS, 4 PIN
产品类别分立半导体    晶体管   
文件大小371KB,共10页
制造商RF Micro Devices (Qorvo)
标准  
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FPD1000ASSR概述

RF Power Field-Effect Transistor, 1-Element, L Band, Gallium Arsenide, N-Channel, High Electron Mobility FET, ROHS COMPLIANT, AS, 4 PIN

FPD1000ASSR规格参数

参数名称属性值
是否无铅不含铅
是否Rohs认证符合
Objectid1038575055
包装说明MICROWAVE, R-XQMW-F4
针数4
Reach Compliance Codecompliant
ECCN代码EAR99
配置SINGLE
最小漏源击穿电压12 V
FET 技术HIGH ELECTRON MOBILITY
最高频带L BAND
JESD-30 代码R-XQMW-F4
JESD-609代码e4
湿度敏感等级1
元件数量1
端子数量4
工作模式DEPLETION MODE
最高工作温度175 °C
封装主体材料UNSPECIFIED
封装形状RECTANGULAR
封装形式MICROWAVE
极性/信道类型N-CHANNEL
功耗环境最大值6 W
认证状态Not Qualified
表面贴装YES
端子面层GOLD
端子形式FLAT
端子位置QUAD
晶体管应用AMPLIFIER
晶体管元件材料GALLIUM ARSENIDE

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FPD1000AS
1W Packaged
Power pHEMT
FPD1000AS
1W PACKAGED POWER pHEMT
Package Style: AS
NOT FOR NEW DESIGNS
Product Description
The FPD1000AS is a packaged depletion mode AlGaAs/InGaAs pseudo-
morphic High Electron Mobility Transistor (pHEMT), optimized for power
applications in L-Band. The surface-mount package has been optimized
for low parasitics.
Features
31dBm Output Power (P
1dB
)
@ 1.8GHz
15dB Power Gain (G
1dB
) @
1.8GHz
42dBm Output IP3
-52dBc WCDMA ACPR at
21dBm PCH
10V Operation
50% Power-Added Efficiency
Evaluation Boards Available
Suitable for applications to
5GHz
Drivers or Output Stages in
PCS/Cellular Base Station
Transmitter Amplifiers
Power Applications in
WLL/WLAN and WiMax Ampli-
fiers
Max.
Unit
dBm
dBm
dB
%
dBc
800
mA
mA
ms
50
|1.4|
μA
V
V
V
25
°C/W
Optimum Technology
Matching® Applied
GaAs HBT
GaAs MESFET
InGaP HBT
SiGe BiCMOS
Si BiCMOS
SiGe HBT
GaAs pHEMT
Si CMOS
Si BJT
GaN HEMT
InP HBT
DE
FO
R
NE
Specification
Typ.
31
15.0
20
50
-46
480
650
1100
720
20
|0.7|
|6|
|20|
|0.9|
Parameter
P
1dB
Gain Compression
W
Min.
30
Electrical Specifications
Power Gain at P
1dB
(G
1dB
)
13.5
NO
T
Maximum Stable Gain (S21/S12)
Power-Added Efficiency (PAE) at P
1dB
Gain Compression
3rd-Order Intermodulation Distortion
(IM3)
Saturated Drain-Source Current (I
DSS
)
Maximum Drain-Source Current
(I
MAX
)
Transconductance (G
M
)
Gate-Source Leakage Current (I
GSO
)
Pinch-Off Voltage (V
P
)
Gate-Source Breakdown Voltage
(V
BDGS
)
Gate-Drain Breakdown Voltage
(V
BDGD
)
Thermal Resistivity, Channel-to-Case
CC
)
Note: T
AMBIENT
=22°C, RF specifications measured at f=1800GHz using CW signal (except as noted).
RF MICRO DEVICES®, RFMD®, Optimum Technology Matching®, Enabling Wireless Connectivity™, PowerStar®, POLARIS™ TOTAL RADIO™ and UltimateBlue™ are trademarks of RFMD, LLC. BLUETOOTH is a trade-
mark owned by Bluetooth SIG, Inc., U.S.A. and licensed for use by RFMD. All other trade names, trademarks and registered trademarks are the property of their respective owners. ©2006, RF Micro Devices, Inc.
DS100125
7628 Thorndike Road, Greensboro, NC 27409-9421 · For sales or technical
support, contact RFMD at (+1) 336-678-5570 or sales-support@rfmd.com.
SI
GN
S
V
DS
=1.3V, V
GS
≈+1V
V
DS
=1.3V, V
GS
=0V
V
GS
=-3V
I
GD
=2.4mA
V
DS
>6V
Applications
Condition
V
DS
=10V, I
DS
=200mA,
Γ
S
and
Γ
L
tuned for opti-
mum IP3
V
DS
=10V, I
DS
=200mA,
Γ
S
and
Γ
L
tuned for opti-
mum IP3
V
DS
=10V, I
DS
=200mA, P
IN
=0dBm, 50Ω system
V
DS
=10V, I
DS
=200mA, P
OUT
=19dB (single-tone
level)
V
DS
=10V, I
DS
=200mA
,
f=12GHz,
Γ
S
and
Γ
L
tuned for optimum IP3
V
DS
=1.3V, V
GS
=0V
V
DS
=1.3V, I
DS
=2.4mA
I
GS
=2.4mA
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