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EP20K600CF672C8N

产品描述fpga - field programmable gate array cpld - apex 20k 2432 macros 508 IO
产品类别可编程逻辑器件    可编程逻辑   
文件大小595KB,共90页
制造商Altera (Intel)
标准
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EP20K600CF672C8N在线购买

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EP20K600CF672C8N概述

fpga - field programmable gate array cpld - apex 20k 2432 macros 508 IO

EP20K600CF672C8N规格参数

参数名称属性值
是否无铅不含铅
是否Rohs认证符合
厂商名称Altera (Intel)
零件包装代码BGA
包装说明27 X 27 MM, 1 MM PITCH, FBGA-672
针数672
Reach Compliance Codecompli
ECCN代码3A001.A.7.A
JESD-30 代码S-PBGA-B672
JESD-609代码e1
长度27 mm
湿度敏感等级4
专用输入次数4
I/O 线路数量508
端子数量672
最高工作温度85 °C
最低工作温度
组织4 DEDICATED INPUTS, 508 I/O
输出函数MACROCELL
封装主体材料PLASTIC/EPOXY
封装代码BGA
封装形状SQUARE
封装形式GRID ARRAY
峰值回流温度(摄氏度)245
可编程逻辑类型LOADABLE PLD
传播延迟1.78 ns
认证状态Not Qualified
座面最大高度3.5 mm
最大供电电压1.89 V
最小供电电压1.71 V
标称供电电压1.8 V
表面贴装YES
温度等级OTHER
端子面层TIN SILVER COPPER
端子形式BALL
端子节距1 mm
端子位置BOTTOM
处于峰值回流温度下的最长时间40
宽度27 mm

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APEX 20KC
®
Programmable Logic
Device
Data Sheet
February 2004 ver. 2.2
Features...
Programmable logic device (PLD) manufactured using a 0.15-µm all-
layer copper-metal fabrication process
25 to 35% faster design performance than APEX
TM
20KE devices
Pin-compatible with APEX 20KE devices
High-performance, low-power copper interconnect
MultiCore
TM
architecture integrating look-up table (LUT) logic
and embedded memory
LUT logic used for register-intensive functions
Embedded system blocks (ESBs) used to implement memory
functions, including first-in first-out (FIFO) buffers, dual-port
RAM, and content-addressable memory (CAM)
High-density architecture
200,000 to 1 million typical gates (see
Table 1)
Up to 38,400 logic elements (LEs)
Up to 327,680 RAM bits that can be used without reducing
available logic
Note (1)
EP20K400C
1,052,000
400,000
16,640
104
212,992
4
-7, -8, -9
1,664
488
Table 1. APEX 20KC Device Features
Feature
Maximum system gates
Typical gates
LEs
ESBs
Maximum RAM bits
PLLs
(2)
Speed grades
(3)
Maximum macrocells
Maximum user I/O pins
Notes to
Table 1:
(1)
(2)
(3)
EP20K200C
526,000
200,000
8,320
52
106,496
2
-7, -8, -9
832
376
EP20K600C
1,537,000
600,000
24,320
152
311,296
4
-7, -8, -9
2,432
588
EP20K1000C
1,772,000
1,000,000
38,400
160
327,680
4
-7, -8, -9
2,560
708
The embedded IEEE Std. 1149.1 Joint Test Action Group (JTAG) boundary-scan circuitry contributes up to
57,000 additional gates.
PLL: phase-locked loop.
The -7 speed grade provides the fastest performance.
Altera Corporation
DS-APEX20KC-2.2
1

 
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