Datasheet> 器件分类 > 无源元件> 电容器> C1825T822J1GBL

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C1825T822J1GBL: 产品描述Ceramic Capacitor, Multilayer, Ceramic, 100V, 5% +Tol, 5% -Tol, C0G, 30ppm/Cel TC, 0.0082uF, Surface Mount, 1825, CHIP; 产品类别无源元件电容器; 文件大小1MB，共18页; 制造商KEMET(基美); 官网地址http://www.kemet.com

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C1825T822J1GBL概述

Ceramic Capacitor, Multilayer, Ceramic, 100V, 5% +Tol, 5% -Tol, C0G, 30ppm/Cel TC, 0.0082uF, Surface Mount, 1825, CHIP

C1825T822J1GBL规格参数

参数名称	属性值
是否无铅	含铅
是否Rohs认证	不符合
厂商名称	KEMET(基美)
包装说明	, 1825
Reach Compliance Code	not_compliant
ECCN代码	EAR99
电容	0.0082 µF
电容器类型	CERAMIC CAPACITOR
介电材料	CERAMIC
高度	1.1 mm
JESD-609代码	e0
长度	4.5 mm
制造商序列号	C
安装特点	SURFACE MOUNT
多层	Yes
负容差	5%
端子数量	2
最高工作温度	125 °C
最低工作温度	-55 °C
封装形状	RECTANGULAR PACKAGE
封装形式	SMT
包装方法	TR, PLASTIC, 7/13 INCH
正容差	5%
额定（直流）电压（URdc）	100 V
系列	C(SIZE)-COTS
尺寸代码	1825
表面贴装	YES
温度特性代码	C0G
温度系数	-/+30ppm/Cel ppm/°C
端子面层	Tin/Lead (Sn90Pb10) - with Nickel (Ni) barrier
端子形状	WRAPAROUND
宽度	6.4 mm

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Surface Mount Multilayer Ceramic Chip Capacitors (SMD MLCCs)

Commercial Off-the-Shelf (COTS) for Higher Reliability

Applications, C0G Dielectric, 10VDC-200VDC

Overview

KEMET’s COTS program is an extension of KEMET knowledge

of high reliability test regimes and requirements. KEMET regularly

supplies “up-screened” products by working with customer drawings

and imposing specified design and test requirements. The COTS

program offers the same high quality and high reliability components

as up-screened products, but at a lower cost to the customer. This is

accomplished by eliminating the need for customer-specific drawings

to achieve the reliability level required for customer applications. A

series of tests and inspections have been selected to provide the

accelerated conditioning and 100% screening necessary to eliminate

infant mortal failures from the population.

KEMET’s C0G dielectric features a 125°C maximum operating

temperature and is considered “stable.” The Electronics

Components, Assemblies & Materials Association (EIA)

characterizes C0G dielectric as a Class I material. Components

of this classification are temperature compensating and are suited

for resonant circuit applications or those where Q and stability of

capacitance characteristics are required. C0G exhibits no change in

capacitance with respect to time and voltage and boasts a negligible

change in capacitance with reference to ambient temperature.

Capacitance change is limited to ±30ppm/ºC from -55°C to +125°C.

All COTS testing includes voltage conditioning and post-electrical

testing as per MIL-PRF-55681. For enhanced reliability, KEMET

also provides the following test level options and conformance

certifications:

Test Level A

Voltage Conditioning

DWV

IR@25°C

CAP

PDA 8%

C of C

Test Level B

Voltage Conditioning

DWV

IR@25°C

CAP

PDA 8%

DPA

C of C

Test Level C

Voltage Conditioning

DWV

IR@25°C

CAP

PDA 8%

DPA

85/85

C of C

Ordering Information

Ceramic

1206

104

Capacitance

Code (pF)

2 Sig. Digits +

Number of Zeros

Use 9 for

1.0 - 9.9pF

Use 8 for

0.5 - .99pF

ex. 2.2pF = 229

ex. 0.5pF = 508

Dielectric

Failure Rate/Design

Termination Finish

Packaging/Grade

(C-Spec)

Blank = Bulk

TU = 7" Reel

Unmarked

TM = 7" Reel

Marked

Case Size Specification/

(L" x W")

Series

0402

0603

0805

1206

1210

1812

2220

T = COTS

Capacitance

Voltage

Tolerance

C = ±0.25pF

D = ±0.5pF

F = ± 1%

G = ±2%

J = ±5%

K = ±10%

M = ±20%

8 = 10V

4 = 16V

3 = 25V

6 = 35V

5 = 50V

1 = 100V

2 = 200V

G = C0G A = Group A Testing per C = 100% Matte Sn

MIL-PRF-55681 PDA 8% L = SnPb (5% min)

B= Group A Testing per

MIL-PRF-55681 PDA

8%, DPA per EIA-469

C = Group A Testing per

MIL-PRF-55681 PDA 8%,

DPA per EIA-469, Humidity

per MIL-STD-202, Method

103, Condition A

Additional capacitance tolerance offerings may be available. Contact KEMET for details.

Additional termination finish options may be available. Contact KEMET for details.

Additional reeling or packaging options may be available. Contact KEMET for details.

One WORLD

One Brand

One Strategy

One Focus

One Team

One KEMET

C1026_COTS_C0G • 6/6/2011

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