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MRF175LU

产品描述UHF BAND, Si, N-CHANNEL, RF POWER, MOSFET, CASE 333-04, 6 PIN
产品类别分立半导体    晶体管   
文件大小162KB,共8页
制造商TE Connectivity(泰科)
官网地址http://www.te.com
标准
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MRF175LU概述

UHF BAND, Si, N-CHANNEL, RF POWER, MOSFET, CASE 333-04, 6 PIN

MRF175LU规格参数

参数名称属性值
是否Rohs认证符合
厂商名称TE Connectivity(泰科)
针数6
制造商包装代码CASE 333-04
Reach Compliance Codeunknown
ECCN代码EAR99
配置SINGLE
最小漏源击穿电压65 V
最大漏极电流 (ID)13 A
FET 技术METAL-OXIDE SEMICONDUCTOR
最高频带ULTRA HIGH FREQUENCY BAND
JESD-30 代码R-CDFM-F6
元件数量1
端子数量6
工作模式ENHANCEMENT MODE
封装主体材料CERAMIC, METAL-SEALED COFIRED
封装形状RECTANGULAR
封装形式FLANGE MOUNT
峰值回流温度(摄氏度)NOT SPECIFIED
极性/信道类型N-CHANNEL
认证状态Not Qualified
表面贴装YES
端子形式FLAT
端子位置DUAL
处于峰值回流温度下的最长时间NOT SPECIFIED
晶体管应用AMPLIFIER
晶体管元件材料SILICON

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SEMICONDUCTOR TECHNICAL DATA
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by MRF175LU/D
The RF MOSFET Line
RF Power
Field-Effect Transistors
N–Channel Enhancement–Mode
Designed for broadband commercial and military applications using single
ended circuits at frequencies to 400 MHz. The high power, high gain and
broadband performance of each device makes possible solid state transmitters
for FM broadcast or TV channel frequency bands.
Guaranteed Performance
MRF175LU @ 28 V, 400 MHz (“U” Suffix)
Output Power — 100 Watts
Power Gain — 10 dB Typ
Efficiency — 55% Typ
MRF175LU
100 W, 28 V, 400 MHz
N–CHANNEL
BROADBAND
RF POWER FETs
D
100% Ruggedness Tested At Rated Output Power
Low Thermal Resistance
Low C
rss
— 20 pF Typ @ V
DS
= 28 V
G
S
CASE 333–04, STYLE 2
MAXIMUM RATINGS
Rating
Drain–Source Voltage
Gate–Source Voltage
Drain Current — Continuous
Total Device Dissipation @ T
C
= 25°C
Derate above 25°C
Storage Temperature Range
Operating Junction Temperature
Symbol
V
DSS
V
GS
I
D
P
D
T
stg
T
J
Value
65
±40
13
270
1.54
–65 to +150
200
Unit
Vdc
Vdc
Adc
Watts
W/°C
°C
°C
THERMAL CHARACTERISTICS
Characteristic
Thermal Resistance, Junction to Case
Symbol
R
θJC
Max
0.65
Unit
°C/W
ELECTRICAL CHARACTERISTICS
(T
C
= 25°C unless otherwise noted)
Characteristic
Symbol
Min
Typ
Max
Unit
OFF CHARACTERISTICS
Drain–Source Breakdown Voltage
(V
GS
= 0, I
D
= 50 mA)
Zero Gate Voltage Drain Current
(V
DS
= 28 V, V
GS
= 0)
Gate–Body Leakage Current
(V
GS
= 20 V, V
DS
= 0)
V
(BR)DSS
I
DSS
I
GSS
65
2.5
1.0
Vdc
mAdc
µAdc
(continued)
Handling and Packaging
— MOS devices are susceptible to damage from electrostatic charge. Reasonable precautions in handling and
packaging MOS devices should be observed.
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