-
如果data_inout不是高阻态,则用作输出,无法做输入的,否则两者岂不有了冲突? inout端口信号做输入时,观察例子中的输出data_out_t就应该是高阻态的.
见许多问这个问题的,总结一下大家的贴子,希望能对大家有点用处,如果有不对的地方,欢迎指出. 芯片外部引脚很多都使用inout类型的,为的是节省管腿。就是一个端口同时做输入和输出。 inout...[详细]
-
摘要:论述了粗粒度可配置计算结构的特点、发展现状和未来发展方向。
关键词:粗粒度 配置 并行计算
可配置计算又称为自适应计算。它是由多个具有可重配置功能的功能单元(PE)和可以配置不同数据传递方向的连续线路一起构成的计算机结构,如图1所示。现在,可重配置计算分为两类:细粒度配置和粗粒度配置。细粒度配置计算主要体现在FPGA(现场可编程逻辑阵列),它在数字逻辑芯片开发和系统设计等方面应用非常...[详细]
-
有 供应商 向记者透露称, 微鲸科技 有限公司(以下简称微鲸科技)拖欠了他们2016年7月至2017年8月提供服务的款项。 对上述说法,记者很快联系到了微鲸科技方面,对方虽承认有欠款,但否认拖欠款项一说。微鲸科技方面认为,公司不存在拒不执行的行为,目前都处于正常的时间周期里面,毕竟尚未到约定的日期。 与此同时,微鲸科技方面还向记者表示,上述供应商是2017年就被公司除名的供应商,双方对业务的...[详细]
-
简介:在这里和大家分享一个PIC16F1829 TIMER1初始化程序,感兴趣的朋友可以看看。 //timer1 分频值 #define TIMER1_DIV1 (0 4) #define TIMER1_DIV2 (1 4) #define TIMER1_DIV4 (2 4) #define TIMER1_DIV8 (3 4) //------------- #define T...[详细]
-
“热插拔”是指将板卡从加有电源的主机(背板、服务器等)上插入或拔出,主要应用在基站、磁盘冗余阵列(RAID)、远程接入服务器、网络路由路、网络交换器以及ISDN等系统。当板卡插入主机时,主机已处于稳态工作状态,所有电容均被充满电,而待插入的电路板是不带电的,板卡上的电容没有电荷,因此,当板卡与主机背后板接触时,由于板卡上的电容的充电而将从主机电源吸入较大的瞬态电流;同样,当把带电的板卡拔...[详细]
-
使用高速 ADC (模数转换器)进行产品开发时,或者评估这些器件以便用于设计时,必须注意ADC的输出谐波。ADC通常使用差分输入,使共模噪声和失真降至最低,但只有在平衡和对称的情况下,这些输入才能发挥最大效用。可以使用一个由两个RF信号发生器和一个振荡器组成的测试系统,来测量差分不平衡对ADC输入的影响。 当ADC的差分模拟输入由于驱动错相而变得不平衡时,器件输出中的偶次阶失真会提高。下面...[详细]
-
据外媒报道,最近,蔚来申请了一项“车辆自毁系统”(vehicular self-destruct system)专利。美国专利商标局表示,该专利描述了蔚来 电动汽车 如何利用自己的电池来结束自己的生命。 (图片来源:蔚来) 不过,与007电影中按下按钮让汽车爆炸不同,蔚来的专利其实是一种安全功能,可以防止灾难性的电池故障夺去人们的性命。 可能听起来有点复杂,不过,如果汽车知道马上就...[详细]
-
全球最大的致力于工业自动化与信息化的公司之一罗克韦尔自动化 (NYSE: ROK)今日正式启动“罗克韦尔自动化全球路演”(RAOTM)天津站活动,来自全国各地的1000多位客户和行业专家齐聚天津,聚焦工业物联网、人工智能、数字化转型以及SEEE(安全、环保、节能和高效)等话题,共同交流与探讨如何通过构建“互联企业”实现智能制造。 此次活动是2019年罗克韦尔自动化全球路演在中国的唯一一站,旨...[详细]
-
电子网消息,根据市调机构统计,半导体硅晶圆缺货状况要到至2021年才会缓解,其中,全球12吋硅晶圆需求更为强劲,至2021年的五年内,年复合成长率约7.1 %,至于8吋晶圆年复合成长率约2.1%。 硅晶圆厂表示,这波缺货,主要与市场供需失衡有关,新增产能有限,但大陆晶圆厂快速崛起,硅晶圆供不应求。预估12吋晶圆厂未来几年每年皆以5%的年增率攀升,等于每年全球新增20至30万片产能,仍远不足市...[详细]
-
网友自制图片表现iPhone 7可能存在的特性
新浪数码讯 2月2日上午消息,随时时间推移,各种新iPhone传言再起,目前最新的是这款手机的机身背部可能使用一种新型陶瓷材料。
苹果公司不会在发布前证实这类消息,目前这仅是一些民间传闻。
根据这种说法,新一代iPhone的机身后背将采用新型陶瓷材料,虽然没有人明确指出这种材料的特性,但我们猜应该会更坚固或更耐腐蚀,...[详细]
-
在维修液晶彩电时通常使用信号波形测试法或使用电流测试法、电压测试法、电阻测试法,通过测量结果来判断故障点,该方法适用范围较广。 1)信号波形测试法。信号波形测试法是用示波器对液晶彩电中信号的波形进行检测,并通过对波形的分析来判断故障的一种方法。在测量波形时,需测其幅值及波形的周期,以便准确地判断出故障的范围。该测试法技术难度相对较大,要求维修人员会使用示波器,并熟悉各种信号的标准波形,且能从...[详细]
-
/*VIICC.H*/ #pragma db cd small #include intrins.h #include reg52.h #define NOP nop ( ); nop ( ); nop ( ); nop ( ) #define SDA P1^7 #define SCL P1^6 void sta( ); void cack( ); void stop( ); void ...[详细]
-
S5PV210内部有96Kb的IRAM和64Kb的IROM。 DRAM0的地址:0x2000_0000——0x3FFF_FFFF(512MB)(自带内存) DRAM1的地址:0x4000_0000——0x7FFF_FFFF(1024MB)(扩展内存) SROM的地址: 0x8000_0000——0xAFFF_FFFF(128MB*6)(扩展内存) IROM的地址: 0xD000_0000——0x...[详细]
-
腾讯科技讯 2018年,中国许多手机厂商开始效仿苹果iPhone X中的刘海屏幕,这引发了一些争议和消费者不满。据台湾媒体报道,用户不买账、生产复杂等原因,将导致刘海屏幕难以成为今年的市场主流。 苹果iPhone X中的刘海屏幕,遭到了不少媒体的批评,被认为是iPhone X手机销售低迷的两大原因之一(另外一个原因是1000美元定价过高)。 在日前的一个新品发布会上,中国锤子科技公司的掌...[详细]
-
6410的地址空间分布: S3C6410处理器拥32位地址总线,其寻址空间为。其中高为保留外设区,低2GB区域又可划分为两部分:主存储区和外设区。 外设主要是寄存器所在的地址。 主存储区分为:Boot镜像区、内部存储区、静态存储区、保留区、动态存储区: Boot镜像区:这个区域的作用正如它的名字所述,是用来启动ARM系统的。但是这个区域并没有固定的存储介质与之对应。...[详细]