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SMMD840-SOD323

产品描述Step Recovery Diode, Silicon, PLASTIC PACKAGE-2
产品类别分立半导体    二极管   
文件大小609KB,共8页
制造商Cobham Semiconductor Solutions
标准  
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SMMD840-SOD323在线购买

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SMMD840-SOD323概述

Step Recovery Diode, Silicon, PLASTIC PACKAGE-2

SMMD840-SOD323规格参数

参数名称属性值
是否无铅不含铅
是否Rohs认证符合
厂商名称Cobham Semiconductor Solutions
包装说明R-PDSO-G2
针数2
Reach Compliance Codeunknown
ECCN代码EAR99
其他特性HIGH EFFICIENCY
最小击穿电压15 V
配置SINGLE
最大二极管电容0.4 pF
最小二极管电容0.2 pF
二极管元件材料SILICON
二极管类型STEP RECOVERY DIODE
JESD-30 代码R-PDSO-G2
JESD-609代码e3
元件数量1
端子数量2
最高工作温度175 °C
最低工作温度-65 °C
封装主体材料PLASTIC/EPOXY
封装形状RECTANGULAR
封装形式SMALL OUTLINE
峰值回流温度(摄氏度)NOT SPECIFIED
最大功率耗散0.25 W
认证状态Not Qualified
表面贴装YES
端子面层Tin (Sn)
端子形式GULL WING
端子位置DUAL
处于峰值回流温度下的最长时间NOT SPECIFIED

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Silicon Step Recovery Diodes
Description
The diodes feature fully passivated, true mesa construction for
sharp transitions and improved stability. The beam lead SRDs
have the industry’s fastest transition times for millimeter wave
multiplication and picosecond pulse forming.
Features
Output combs to 40+ GHz
Transition times down to 35 ps
Screening per MIL-PRF-19500
and MIL-PRF-38534 available
Absolute Maximum Ratings
(Chip and Beam Lead)
Parameters
Reverse Voltage
Forward Current
Rated V
BR
50 mA (Beam Lead)
150 mA (Chip)
Power Dissipation
150
°C
/
JC
Rating
at T
HSK
= +25
°C
Derate linearly to zero at T
HSK
= +175
°C
Junction Temperature
Storage Temperature
Mounting / Bonding Temperature
-65
°C
to +175
°C
-65
°C
to +175
°C
+235
°C
for 10 seconds (Beam Lead)
+310
°C
for 30 seconds (Chip)
Chip and Beam Lead
V
BR
C
J
MIN
pF
C
J
MAX
pF
MIN
ns
TYP
ns
t
t
TYP
ps
t
t
MAX
ps
F
CO
TYP
GHz
JC
Model
MMDB30-B1
1
MMDB35-B1
1
MMDB45-B1
1
MMD805-C1
2
MMD810-C1
2
MMD820-C1
2
MMD830-C1
1
MMD832-C1
1
MMD835-C1
1
MMD837-C1
1
MMD840-C1
1
MIN
V
MAX
°C/W
Package
B1
1
B1
1
B1
1
C1
2
C1
2
C1
2
C1
1
C1
1
C1
1
C1
1
C1
1
1
4
16
25
60
50
40
25
20
1
5
20
1
5
I
R
=
10 A
0.1
5
0.1
3
0.1
1
2.5
1.5
1.0
0.5
0.4
0.3
0.2
0.2
0.25
0.20
0.20
3.5
2.5
1.7
1.0
0.8
0.7
0.4
0.4
1.0
1.0
3.0
80
40
30
1
5
10
10
5
7
4.0
4.0
8.0
100
70
60
30
1
5
20
10
1
5
30
35
45
250
200
80
60
60
60
60
60
I
F
= 3 mA
V
R
= 7 V
38
45
58
300
250
100
80
80
70
70
70
530
482
410
1
30
200
390
700
660
800
1,300
880
F
CO
=
1 / 2 R
S
600
600
600
1
5
22
25
45
50
60
60
60
I
F
= 10 mA
Test Conditions
V
R
= 6 V
F = 1 MHz
I
R
= 6 mA
Measured at
50% Recovery
I
F
= 10 mA
V
R
= 10 V
Revision Date: 09/23/05
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