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HN3C56FU(TE85L)

产品描述HN3C56FU(TE85L)
产品类别分立半导体    晶体管   
文件大小194KB,共3页
制造商Toshiba(东芝)
官网地址http://toshiba-semicon-storage.com/
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HN3C56FU(TE85L)概述

HN3C56FU(TE85L)

HN3C56FU(TE85L)规格参数

参数名称属性值
厂商名称Toshiba(东芝)
包装说明,
Reach Compliance Codeunknown
Base Number Matches1

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HN3C56FU
TOSHIBA Transistor
Silicon NPN Epitaxial Type (PCT Process)
HN3C56FU
Audio Frequency General Purpose Amplifier Applications
Small package (dual type)
High voltage and high current
High h
FE
Excellent h
FE
linearity
: V
CEO
= 50V, I
C
= 150mA (max)
: h
FE
= 120~400
: h
FE
(I
C
= 0.1mA) / (I
C
= 2mA)
= 0.95 (typ.)
Unit: mm
Absolute Maximum Ratings
(Ta = 25°C)
(Q1, Q2 Common)
Characteristic
Collector-base voltage
Collector-emitter voltage
Emitter-base voltage
Collector current
Base current
Collector power dissipation
Junction temperature
Storage temperature range
Symbol
V
CBO
V
CEO
V
EBO
I
C
I
B
P
C
*
T
j
T
stg
Rating
60
50
5
150
30
200
150
−55~150
Unit
V
V
V
mA
mA
mW
°C
°C
1.COLLECTOR1
2.EMITTER1
3.COLLECTOR2
4.EMITTER2
5.BASE2
6.BASE1
(C1)
(E2)
(C2)
(E2)
(B2)
(B1)
Using continuously under heavy loads (e.g. the application of
high temperature/current/voltage and the significant change in
temperature, etc.) may cause this product to decrease in the
reliability significantly even if the operating conditions (i.e. operating temperature/current/voltage, etc.) are
within the absolute maximum ratings.
Please design the appropriate reliability upon reviewing the Toshiba Semiconductor Reliability Handbook
(“Handling Precautions”/“Derating Concept and Methods”) and individual reliability data (i.e. reliability test
report and estimated failure rate, etc).
* Total rating. Power dissipation per element should not exceed 130mW.
Note:
JEDEC
JEITA
TOSHIBA
2-2J1A
Weight: 0.0068mg (typ.)
Electrical Characteristics
(Ta = 25°C) (Q1, Q2 Common)
Characteristic
Collector cut-off current
Emitter cut-off current
DC current gain
Collector-emitter saturation voltage
Transition frequency
Collector output capacitance
Symbol
I
CBO
I
EBO
h
FE
V
CE (sat)
f
T
C
ob
Test
Circuit
Test Condition
V
CB
= 60V, I
E
= 0
V
EB
= 5V, I
C
= 0
V
CE
= 6V, I
C
= 2mA
I
C
= 100mA, I
B
=10mA
V
CE
= 10V, I
C
= 1mA
V
CB
= 10V, I
E
= 0, f = 1MH
z
Min
120
60
Typ.
0.1
2
Max
0.1
0.1
400
0.25
Unit
μA
μA
V
MH
z
pF
Marking
6
5
4
Equivalent Circuit
(Top View)
6
Q1
5
4
38
1
2
3
1
2
Q2
3
1
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