电子工程世界电子工程世界电子工程世界

关键词

搜索

型号

搜索

MMD832-T86

产品描述Step Recovery Diode, Silicon, CERAMIC PACKAGE-2
产品类别分立半导体    二极管   
文件大小609KB,共8页
制造商Cobham Semiconductor Solutions
标准  
下载文档 详细参数 全文预览

MMD832-T86概述

Step Recovery Diode, Silicon, CERAMIC PACKAGE-2

MMD832-T86规格参数

参数名称属性值
是否无铅不含铅
是否Rohs认证符合
包装说明O-CEMW-N2
针数2
Reach Compliance Codeunknown
ECCN代码EAR99
最小击穿电压20 V
配置SINGLE
最大二极管电容1 pF
最小二极管电容0.78 pF
二极管元件材料SILICON
二极管类型STEP RECOVERY DIODE
JESD-30 代码O-CEMW-N2
JESD-609代码e4
元件数量1
端子数量2
最高工作温度175 °C
最低工作温度-65 °C
封装主体材料CERAMIC, METAL-SEALED COFIRED
封装形状ROUND
封装形式MICROWAVE
峰值回流温度(摄氏度)NOT SPECIFIED
认证状态Not Qualified
表面贴装YES
端子面层Gold (Au)
端子形式NO LEAD
端子位置END
处于峰值回流温度下的最长时间NOT SPECIFIED

文档预览

下载PDF文档
Silicon Step Recovery Diodes
Description
The diodes feature fully passivated, true mesa construction for
sharp transitions and improved stability. The beam lead SRDs
have the industry’s fastest transition times for millimeter wave
multiplication and picosecond pulse forming.
Features
Output combs to 40+ GHz
Transition times down to 35 ps
Screening per MIL-PRF-19500
and MIL-PRF-38534 available
Absolute Maximum Ratings
(Chip and Beam Lead)
Parameters
Reverse Voltage
Forward Current
Rated V
BR
50 mA (Beam Lead)
150 mA (Chip)
Power Dissipation
150
°C
/
JC
Rating
at T
HSK
= +25
°C
Derate linearly to zero at T
HSK
= +175
°C
Junction Temperature
Storage Temperature
Mounting / Bonding Temperature
-65
°C
to +175
°C
-65
°C
to +175
°C
+235
°C
for 10 seconds (Beam Lead)
+310
°C
for 30 seconds (Chip)
Chip and Beam Lead
V
BR
C
J
MIN
pF
C
J
MAX
pF
MIN
ns
TYP
ns
t
t
TYP
ps
t
t
MAX
ps
F
CO
TYP
GHz
JC
Model
MMDB30-B1
1
MMDB35-B1
1
MMDB45-B1
1
MMD805-C1
2
MMD810-C1
2
MMD820-C1
2
MMD830-C1
1
MMD832-C1
1
MMD835-C1
1
MMD837-C1
1
MMD840-C1
1
MIN
V
MAX
°C/W
Package
B1
1
B1
1
B1
1
C1
2
C1
2
C1
2
C1
1
C1
1
C1
1
C1
1
C1
1
1
4
16
25
60
50
40
25
20
1
5
20
1
5
I
R
=
10 A
0.1
5
0.1
3
0.1
1
2.5
1.5
1.0
0.5
0.4
0.3
0.2
0.2
0.25
0.20
0.20
3.5
2.5
1.7
1.0
0.8
0.7
0.4
0.4
1.0
1.0
3.0
80
40
30
1
5
10
10
5
7
4.0
4.0
8.0
100
70
60
30
1
5
20
10
1
5
30
35
45
250
200
80
60
60
60
60
60
I
F
= 3 mA
V
R
= 7 V
38
45
58
300
250
100
80
80
70
70
70
530
482
410
1
30
200
390
700
660
800
1,300
880
F
CO
=
1 / 2 R
S
600
600
600
1
5
22
25
45
50
60
60
60
I
F
= 10 mA
Test Conditions
V
R
= 6 V
F = 1 MHz
I
R
= 6 mA
Measured at
50% Recovery
I
F
= 10 mA
V
R
= 10 V
Revision Date: 09/23/05

技术资料推荐更多

 
EEWorld订阅号

 
EEWorld服务号

 
汽车开发圈

 
机器人开发圈

About Us 关于我们 客户服务 联系方式 器件索引 网站地图 最新更新 手机版

站点相关: 大学堂 TI培训 Datasheet 电子工程 索引文件: 408  874  176  1186  1027  24  19  45  26  5 

器件索引   0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z

北京市海淀区中关村大街18号B座15层1530室 电话:(010)82350740 邮编:100190

电子工程世界版权所有 京B2-20211791 京ICP备10001474号-1 电信业务审批[2006]字第258号函 京公网安备 11010802033920号 Copyright © 2005-2026 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved