工厂对更高效测试能力的需求不断增加半导体制造商正在对自动测试设备(ATE)公司提出更高的要求,要求他们能够快速可靠地设计出满足不断增长的 IC 需求的测试系统,并且尽可能少地增加成本。IC 制造商将测试成本(CoT)视为成本增加项,虽然必需时只从产品利润中扣除,却需要不断增加工厂占地面积,而不能加速周期和提高产量。ATE 系统制造商需要开发测试系统来满足新 IC 产品的技术需求,并且不会造成产量损...
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