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CMH05(TE12L,Q,M)

产品描述DIODE GEN PURP 400V 1A M-FLAT
产品类别半导体    分立半导体   
文件大小190KB,共5页
制造商Toshiba(东芝)
官网地址http://toshiba-semicon-storage.com/
标准
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CMH05(TE12L,Q,M)概述

DIODE GEN PURP 400V 1A M-FLAT

CMH05(TE12L,Q,M)规格参数

参数名称属性值
二极管类型标准
电压 - DC 反向(Vr)(最大值)400V
电流 - 平均整流(Io)1A
不同 If 时的电压 - 正向(Vf1.3V @ 1A
速度快速恢复 =< 500 ns,> 200mA(Io)
反向恢复时间(trr)100ns
不同 Vr 时的电流 - 反向漏电流10µA @ 400V
安装类型表面贴装
封装/外壳SOD-128
供应商器件封装M-FLAT(2.4x3.8)
工作温度 - 结-40°C ~ 150°C

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CMH05
TOSHIBA High Efficiency Rectifier Silicon Epitaxial Type
CMH05
Switching Mode Power Supply Applications
Unit: mm
Repetitive peak reverse voltage: V
RRM
= 400 V
Average forward current: I
F (AV)
= 1.0 A
Low forward voltage: V
FM
= 1.3 V (max.)
Very fast reverse-recovery time: trr = 50 ns (max.)
Suitable for compact assembly due to its small surface-mount
package, the “M−FLAT
TM
” (Toshiba package name)
Absolute Maximum Ratings
(Ta
=
25°C)
Characteristics
Repetitive peak reverse voltage
Average forward current
Peak one-cycle surge forward current
(non-repetitive)
Junction temperature
Storage temperature range
Symbol
V
RRM
I
F (AV)
I
FSM
T
j
T
stg
Rating
400
1.0 (Note 1)
20 (50 Hz)
−40~150
−40~150
Unit
V
A
A
°C
°C
Note 1: Tℓ=131°C Device mounted on a ceramic board
Board size: 50 mm
×
50 mm
Soldering land: 2 mm
×2
mm
Board thickness: 0.64t
JEDEC
JEITA
TOSHIBA
3-4E1A
Note 2: Using continuously under heavy loads (e.g. the application of
high temperature/current/voltage and the significant change in
Weight: 0.023 g (typ.)
temperature, etc.) may cause this product to decrease in the
reliability significantly even if the operating conditions (i.e. operating temperature/current/voltage, etc.) are
within the absolute maximum ratings.
Please design the appropriate reliability upon reviewing the Toshiba Semiconductor Reliability Handbook
(“Handling Precautions”/Derating Concept and Methods) and individual reliability data (i.e. reliability test
report and estimated failure rate, etc).
Electrical Characteristics
(Ta
=
25°C)
Characteristics
Peak forward voltage
Peak repetitive reverse current
Reverse recovery time
Forward recovery time
Symbol
V
FM (1)
V
FM (2)
I
RRM
t
rr
t
fr
Test Condition
I
FM
=
0.1 A (pulse test)
I
FM
=
1.0 A (pulse test)
V
RRM
=
400 V (pulse test)
I
F
=
1 A, di/dt =
−30
A/μs
I
F
=
1.0 A
Device mounted on a ceramic board
(board size: 50 mm
×
50 mm)
(soldering land: 2 mm
×
2 mm)
(board thickness: 0.64 t)
Thermal resistance
(junction to ambient)
R
th (j-a)
Device mounted on a glass-epoxy board
(board size: 50 mm
×
50 mm)
(soldering land: 6 mm
×
6 mm)
(board thickness: 1.6 t)
Device mounted on a glass-epoxy board
(board size: 50 mm
×
50 mm)
(soldering land: 2.1 mm
×
1.4 mm)
(board thickness: 1.6 t)
Thermal resistance
(junction to lead)
R
th (j-ℓ)
Min
Typ.
0.83
1.1
Max
1.3
10
50
100
60
Unit
V
μA
ns
ns
135
°C/W
210
16
°C/W
1
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