AS SERIES, 32-BIT ERROR DETECT AND CORRECT CKT, PQCC68
参数名称 | 属性值 |
厂商名称 | Texas Instruments(德州仪器) |
Reach Compliance Code | unknown |
Is Samacsys | N |
其他特性 | BUILT IN DIAGNOSTICS; BYTE CONTROL |
系列 | AS |
JESD-30 代码 | S-PQCC-J68 |
长度 | 24.2316 mm |
负载电容(CL) | 50 pF |
逻辑集成电路类型 | ERROR DETECTION AND CORRECTION CIRCUIT |
位数 | 32 |
功能数量 | 1 |
端子数量 | 68 |
最高工作温度 | 70 °C |
最低工作温度 | |
输出特性 | 3-STATE |
封装主体材料 | PLASTIC/EPOXY |
封装代码 | QCCJ |
封装形状 | SQUARE |
封装形式 | CHIP CARRIER |
最大电源电流(ICC) | 300 mA |
传播延迟(tpd) | 32 ns |
认证状态 | Not Qualified |
座面最大高度 | 4.57 mm |
最大供电电压 (Vsup) | 5.5 V |
最小供电电压 (Vsup) | 4.5 V |
标称供电电压 (Vsup) | 5 V |
表面贴装 | YES |
技术 | TTL |
温度等级 | COMMERCIAL |
端子形式 | J BEND |
端子节距 | 1.27 mm |
端子位置 | QUAD |
宽度 | 24.2316 mm |
Base Number Matches | 1 |
SN74AS632FNR | SN74ALS632BFNR | |
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描述 | AS SERIES, 32-BIT ERROR DETECT AND CORRECT CKT, PQCC68 | ALS SERIES, 32-BIT ERROR DETECT AND CORRECT CKT, PQCC68 |
厂商名称 | Texas Instruments(德州仪器) | Texas Instruments(德州仪器) |
Reach Compliance Code | unknown | unknown |
其他特性 | BUILT IN DIAGNOSTICS; BYTE CONTROL | BUILT IN DIAGNOSTICS; BYTE CONTROL |
系列 | AS | ALS |
JESD-30 代码 | S-PQCC-J68 | S-PQCC-J68 |
长度 | 24.2316 mm | 24.2316 mm |
负载电容(CL) | 50 pF | 50 pF |
逻辑集成电路类型 | ERROR DETECTION AND CORRECTION CIRCUIT | ERROR DETECTION AND CORRECTION CIRCUIT |
位数 | 32 | 32 |
功能数量 | 1 | 1 |
端子数量 | 68 | 68 |
最高工作温度 | 70 °C | 70 °C |
输出特性 | 3-STATE | 3-STATE |
封装主体材料 | PLASTIC/EPOXY | PLASTIC/EPOXY |
封装代码 | QCCJ | QCCJ |
封装形状 | SQUARE | SQUARE |
封装形式 | CHIP CARRIER | CHIP CARRIER |
最大电源电流(ICC) | 300 mA | 250 mA |
传播延迟(tpd) | 32 ns | 37 ns |
认证状态 | Not Qualified | Not Qualified |
座面最大高度 | 4.57 mm | 4.57 mm |
最大供电电压 (Vsup) | 5.5 V | 5.5 V |
最小供电电压 (Vsup) | 4.5 V | 4.5 V |
标称供电电压 (Vsup) | 5 V | 5 V |
表面贴装 | YES | YES |
技术 | TTL | TTL |
温度等级 | COMMERCIAL | COMMERCIAL |
端子形式 | J BEND | J BEND |
端子节距 | 1.27 mm | 1.27 mm |
端子位置 | QUAD | QUAD |
宽度 | 24.2316 mm | 24.2316 mm |
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