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NDF08N60ZG

产品描述MOSFET 600V 0.95 OHM TO- 220FP
产品类别分立半导体    晶体管   
文件大小122KB,共6页
制造商ON Semiconductor(安森美)
官网地址http://www.onsemi.cn
标准
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NDF08N60ZG概述

MOSFET 600V 0.95 OHM TO- 220FP

NDF08N60ZG规格参数

参数名称属性值
Brand NameON Semiconductor
是否无铅不含铅
是否Rohs认证符合
厂商名称ON Semiconductor(安森美)
零件包装代码TO-220AB
包装说明FLANGE MOUNT, R-PSFM-T3
针数3
制造商包装代码221AH
Reach Compliance Codenot_compliant
ECCN代码EAR99
Factory Lead Time1 week
Samacsys DescriptionNULL
雪崩能效等级(Eas)235 mJ
外壳连接ISOLATED
配置SINGLE WITH BUILT-IN DIODE
最小漏源击穿电压600 V
最大漏极电流 (Abs) (ID)8.4 A
最大漏极电流 (ID)8.4 A
最大漏源导通电阻0.95 Ω
FET 技术METAL-OXIDE SEMICONDUCTOR
JEDEC-95代码TO-220AB
JESD-30 代码R-PSFM-T3
JESD-609代码e3
元件数量1
端子数量3
工作模式ENHANCEMENT MODE
最高工作温度150 °C
封装主体材料PLASTIC/EPOXY
封装形状RECTANGULAR
封装形式FLANGE MOUNT
峰值回流温度(摄氏度)NOT SPECIFIED
极性/信道类型N-CHANNEL
最大功率耗散 (Abs)36 W
最大脉冲漏极电流 (IDM)30 A
认证状态Not Qualified
表面贴装NO
端子面层Tin (Sn)
端子形式THROUGH-HOLE
端子位置SINGLE
处于峰值回流温度下的最长时间NOT SPECIFIED
晶体管元件材料SILICON

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NDF08N60Z
N-Channel Power MOSFET
600 V, 0.95
W
Features
Low ON Resistance
Low Gate Charge
ESD Diode−Protected Gate
100% Avalanche Tested
These Devices are Pb−Free, Halogen Free/BFR Free and are RoHS
Compliant
www.onsemi.com
V
DSS
600 V
R
DS(ON)
(MAX) @ 3.5 A
0.95
W
ABSOLUTE MAXIMUM RATINGS
(T
C
= 25°C unless otherwise noted)
Rating
Drain−to−Source Voltage
Continuous Drain Current R
qJC
(Note 1)
Continuous Drain Current R
qJC
T
A
= 100°C (Note 1)
Pulsed Drain Current,
V
GS
@ 10 V
Power Dissipation
Gate−to−Source Voltage
Single Pulse Avalanche Energy,
I
D
= 7.5 A
ESD (HBM)
(JESD 22−A114)
RMS Isolation Voltage
(t = 0.3 sec., R.H.
30%,
T
A
= 25°C) (Figure 14)
Peak Diode Recovery (Note 2)
Continuous Source Current (Body Diode)
Maximum Temperature for Soldering
Leads
Operating Junction and
Storage Temperature Range
Symbol
V
DSS
I
D
I
D
I
DM
P
D
V
GS
E
AS
V
esd
V
ISO
NDF08N60Z
600
8.4
5.3
30
36
±30
235
4000
4500
Unit
V
A
A
A
W
V
mJ
V
V
NDF08N60ZG,
NDF08N60ZH
TO−220FP
CASE 221AH
G (1)
N−Channel
D (2)
S (3)
MARKING
DIAGRAM
dv/dt
I
S
T
L
T
J
, T
stg
4.5
7.5
260
−55
to 150
V/ns
A
°C
°C
NDF08N60ZG
or
NDF08N60ZH
AYWW
Gate
Source
Stresses exceeding those listed in the Maximum Ratings table may damage the
device. If any of these limits are exceeded, device functionality should not be
assumed, damage may occur and reliability may be affected.
1. Limited by maximum junction temperature
2. I
D
v
7.5 A, di/dt
200 A/ms, V
DD
BV
DSS
, T
J
150°C.
Drain
A
Y
WW
G, H
= Location Code
= Year
= Work Week
= Pb−Free, Halogen−Free Package
ORDERING INFORMATION
See detailed ordering and shipping information on page 5 of
this data sheet.
©
Semiconductor Components Industries, LLC, 2013
January, 2013
Rev. 4
1
Publication Order Number:
NDF08N60Z/D
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