Datasheet> 器件分类 > 半导体> 逻辑> SN74LVTH18652A

SN74LVTH18652A: 产品描述SN74LVTH18652A 3.3-V ABT Scan Test Devices With 18-Bit Transceivers And Registers; 产品类别半导体逻辑; 文件大小604KB，共38页; 制造商Texas Instruments(德州仪器); 官网地址http://www.ti.com.cn/; 标准

敬请期待详细参数选型对比

SN74LVTH18652A概述

SN74LVTH18652A 3.3-V ABT Scan Test Devices With 18-Bit Transceivers And Registers

SN74LVTH18652A规格参数

参数名称	属性值
Rating	Catalog
Technology Family	LVT
Approx. price(US$)	9.65 \| 1ku
IOH(Max)(mA)	-32
Package Group	LQFP\|64
VCC(Min)(V)	2.7
Operating temperature range(C)	-40 to 85
ICC @ nom voltage(Max)(mA)	24
Voltage(Nom)(V)	3.3
tpd @ nom Voltage(Max)(ns)	4.7
IOL(Max)(mA)	64
VCC(Max)(V)	3.6
Bits(#)	18
F @ nom voltage(Max)(Mhz)	160

SN74LVTH18652A相似产品对比

	SN74LVTH18652A	74LVTH182652APMG4	SN74LVTH18652APMG4	SN74LVTH182652A
描述	SN74LVTH18652A 3.3-V ABT Scan Test Devices With 18-Bit Transceivers And Registers	Specialty Function Logic 3.3V ABT Scan Test Devices	Specialty Function Logic 3.3-V ABT w/18-Bit Trnscvr & Register	SN74LVTH182652A 3.3-V ABT Scan Test Devices With 18-Bit Transceivers And Registers

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