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HUFA75309T3ST

产品描述3A, 55V, 0.070 Ohm, N-Channel UltraFET Power MOSFET
产品类别分立半导体    晶体管   
文件大小170KB,共8页
制造商Fairchild
官网地址http://www.fairchildsemi.com/
标准
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HUFA75309T3ST概述

3A, 55V, 0.070 Ohm, N-Channel UltraFET Power MOSFET

HUFA75309T3ST规格参数

参数名称属性值
是否Rohs认证符合
厂商名称Fairchild
包装说明SMALL OUTLINE, R-PDSO-G4
Reach Compliance Codecompliant
ECCN代码EAR99
外壳连接DRAIN
配置SINGLE WITH BUILT-IN DIODE
最小漏源击穿电压55 V
最大漏极电流 (Abs) (ID)3 A
最大漏极电流 (ID)3 A
最大漏源导通电阻0.07 Ω
FET 技术METAL-OXIDE SEMICONDUCTOR
JESD-30 代码R-PDSO-G4
JESD-609代码e3
湿度敏感等级1
元件数量1
端子数量4
工作模式ENHANCEMENT MODE
最高工作温度150 °C
封装主体材料PLASTIC/EPOXY
封装形状RECTANGULAR
封装形式SMALL OUTLINE
峰值回流温度(摄氏度)260
极性/信道类型N-CHANNEL
最大功率耗散 (Abs)1.1 W
认证状态Not Qualified
表面贴装YES
端子面层Matte Tin (Sn)
端子形式GULL WING
端子位置DUAL
处于峰值回流温度下的最长时间NOT SPECIFIED
晶体管应用SWITCHING
晶体管元件材料SILICON

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HUFA75309T3ST
Data Sheet
December 2001
3A, 55V, 0.070 Ohm, N-Channel UltraFET
Power MOSFET
This N-Channel power MOSFET is
manufactured using the innovative
UltraFET® process. This advanced
process technology achieves the
lowest possible on-resistance per silicon area, resulting in
outstanding performance. This device is capable of
withstanding high energy in the avalanche mode and the
diode exhibits very low reverse recovery time and stored
charge. It was designed for use in applications where power
efficiency is important, such as switching regulators,
switching converters, motor drivers, relay drivers, low-
voltage bus switches, and power management in portable
and battery operated products.
Formerly developmental type TA75309.
Features
• 3A, 55V
• Ultra Low On-Resistance, r
DS(ON)
= 0.070Ω
• Diode Exhibits Both High Speed and Soft Recovery
• Temperature Compensating PSPICE
®
Model
• Thermal Impedance SPICE Model
• Peak Current vs Pulse Width Curve
• UIS Rating Curve
• Related Literature
- TB334, “Guidelines for Soldering Surface Mount
Components to PC Boards”
Symbol
D
Ordering Information
PART NUMBER
HUFA75309T3ST
PACKAGE
SOT-223
5309
S
BRAND
G
NOTE: HUFA75309T3ST is available only in tape and reel.
Packaging
SOT-223
DRAIN
(FLANGE)
GATE
DRAIN
SOURCE
This product has been designed to meet the extreme test conditions and environment demanded by the automotive industry. For a copy
of the requirements, see AEC Q101 at: http://www.aecouncil.com/
Reliability data can be found at: http://www.fairchildsemi.com/products/discrete/reliability/index.html.
All Fairchild semiconductor products are manufactured, assembled and tested under ISO9000 and QS9000 quality systems certification.
©2001 Fairchild Semiconductor Corporation
HUFA75309T3ST Rev. B
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