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FLM1314-6F

产品描述RF Power Field-Effect Transistor, 1-Element, KU Band, Gallium Arsenide, N-Channel, Junction FET, HERMETIC SEALED, METAL CERAMIC, CASE IA, 2 PIN
产品类别分立半导体    晶体管   
文件大小296KB,共4页
制造商SUMITOMO(住友)
官网地址https://global-sei.com/
标准
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FLM1314-6F概述

RF Power Field-Effect Transistor, 1-Element, KU Band, Gallium Arsenide, N-Channel, Junction FET, HERMETIC SEALED, METAL CERAMIC, CASE IA, 2 PIN

FLM1314-6F规格参数

参数名称属性值
是否无铅不含铅
是否Rohs认证符合
厂商名称SUMITOMO(住友)
包装说明FLANGE MOUNT, R-CDFM-F2
针数2
制造商包装代码CASE IA
Reach Compliance Codeunknown
ECCN代码EAR99
其他特性HIGH RELIABILITY
外壳连接SOURCE
配置SINGLE
最小漏源击穿电压15 V
最大漏极电流 (ID)2.1 A
FET 技术JUNCTION
最高频带KU BAND
JESD-30 代码R-CDFM-F2
元件数量1
端子数量2
工作模式DEPLETION MODE
封装主体材料CERAMIC, METAL-SEALED COFIRED
封装形状RECTANGULAR
封装形式FLANGE MOUNT
峰值回流温度(摄氏度)NOT SPECIFIED
极性/信道类型N-CHANNEL
认证状态Not Qualified
表面贴装YES
端子形式FLAT
端子位置DUAL
处于峰值回流温度下的最长时间NOT SPECIFIED
晶体管应用AMPLIFIER
晶体管元件材料GALLIUM ARSENIDE
Base Number Matches1

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FLM1314-6F
X, Ku-Band Internally Matched FET
FEATURES
High Output Power: P1dB = 37.5dBm (Typ.)
High Gain: G1dB = 5.5dB (Typ.)
High PAE:
η
add = 22% (Typ.)
Broad Band: 13.75 ~ 14.5GHz
Impedance Matched Zin/Zout = 50Ω
Hermetically Sealed
DESCRIPTION
The FLM1314-6F is a power GaAs FET that is internally matched for
standard communication bands to provide optimum power and gain in a
50 ohm system.
Eudyna’s stringent Quality Assurance Program assures the highest
reliability and consistent performance.
ABSOLUTE MAXIMUM RATING (Ambient Temperature Ta=25°C)
Item
Drain-Source Voltage
Gate-Source Voltage
Total Power Dissipation
Storage Temperature
Channel Temperature
Symbol
VDS
VGS
PT
Tstg
Tch
Tc = 25°C
Condition
Rating
15
-5
31.2
-65 to +175
175
Unit
V
V
W
°C
°C
Fujitsu recommends the following conditions for the reliable operation of GaAs FETs:
1. The drain-source operating voltage (VDS) should not exceed 10 volts.
2. The forward and reverse gate currents should not exceed 26.0 and -2.8 mA respectively with
gate resistance of 100Ω.
ELECTRICAL CHARACTERISTICS (Ambient Temperature Ta=25°C)
Item
Saturated Drain Current
Transconductance
Pinch-off Voltage
Gate Source Breakdown Voltage
Output Power at 1dB G.C.P.
Power Gain at 1dB G.C.P.
Drain Current
Power-added Efficiency
Gain Flatness
3rd Order Intermodulation
Distortion
Thermal Resistance
Channel Temperature Rise
CASE STYLE: IA
Symbol
IDSS
gm
Vp
VGSO
P1dB
G1dB
Idsr
η
add
∆G
IM3
Rth
∆T
ch
f = 14.5GHz,
∆f
= 10 MHz
2-Tone Test
Pout =26.5dBm S.C.L.
Channel to Case
10V x Idsr x Rth
VDS =10V,
IDS
=
0.6 IDSS (Typ.),
f = 13.75 ~ 14.5 GHz,
ZS=ZL=50 ohm
Test Conditions
VDS = 5V, VGS = 0V
VDS = 5V, IDS =1800mA
VDS = 5V, IDS =120mA
IGS = -120µA
Min.
-
-
-0.5
-5.0
36.5
5.0
-
-
-
-42
-
-
Limit
Typ. Max.
2800 4200
2350
-1.5
-
37.5
5.5
-
-3.0
-
-
-
Unit
mA
mS
V
V
dBm
dB
mA
%
dB
dBc
°C/W
°C
1800 2100
22
-
-45
4.0
-
-
±0.6
-
4.5
80
G.C.P.: Gain Compression Point, S.C.L.: Single Carrier Level
Edition 1.4
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