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HCC4012BKG

产品描述Rad-hard dual 4-input NAND gate
产品类别逻辑    逻辑   
文件大小822KB,共34页
制造商ST(意法半导体)
官网地址http://www.st.com/
标准
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HCC4012BKG概述

Rad-hard dual 4-input NAND gate

HCC4012BKG规格参数

参数名称属性值
Brand NameSTMicroelectronics
是否Rohs认证符合
厂商名称ST(意法半导体)
包装说明,
制造商包装代码FLAT14 ESA FP
Reach Compliance Codecompliant
逻辑集成电路类型NAND GATE
Base Number Matches1

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HCC40xxx, HCC45xxx
Rad-hard, high voltage, CMOS logic series
Datasheet
-
production data
Description
The HCC40xxx and HCC45xxx series are
composed of 70 types of high voltage CMOS
functions, offering a set of highly noise tolerant
gates, Flip-Flops, multiplexers, counters, bus
interfaces, and several other functions. The
radiation hardness, single event latch-up (SEL),
single event upset (SEU) immunity, and the
housing in hermetic packages of all types of both
series make them usable in the most difficult
environmental conditions.
The complete specification of each type is
available from the European Space Components
Coordination (ESCC) website:
https://spacecomponents.org/. ST guarantees full
compliance of qualified parts with these ESCC
detailed specifications.
Flat-14
DIL-14
Flat-16
DIL-16
Flat-24
DIL-24
The upper metallic lid is not electrically connected to any
pins, nor to the IC die inside the package.
Features
3 to 20 V max operating voltage
Buffered inputs and outputs
Standardized symmetrical outputs
characteristic
50 ns typical propagation delays
100 nA max 25 °C input current
100 % tested 20 V quiescent current
5-10-15 V parametric testing
Hermetic packages
Rad-hard 100 kRad TID at 11rad/sec dose rate
SEL and SET immune up to 119 MeV/cm²/mg
SEU immune up to 36 or 119 MeV/cm²/mg
ESCC qualified
August 2017
This is information on a product in full production.
DocID17102 Rev 7
1/34
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