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A3P250-VQG100C

产品描述Field Programmable Gate Array, 6144 CLBs, 250000 Gates, 350MHz, CMOS, PQFP100, 0.50 MM PITCH, GREEN, VQFP-100
产品类别可编程逻辑器件    可编程逻辑   
文件大小3MB,共192页
制造商Microsemi
官网地址https://www.microsemi.com
标准
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A3P250-VQG100C概述

Field Programmable Gate Array, 6144 CLBs, 250000 Gates, 350MHz, CMOS, PQFP100, 0.50 MM PITCH, GREEN, VQFP-100

A3P250-VQG100C规格参数

参数名称属性值
是否Rohs认证符合
厂商名称Microsemi
包装说明TFQFP,
Reach Compliance Codecompliant
最大时钟频率350 MHz
JESD-30 代码S-PQFP-G100
长度14 mm
湿度敏感等级3
可配置逻辑块数量6144
等效关口数量250000
端子数量100
最高工作温度70 °C
最低工作温度
组织6144 CLBS, 250000 GATES
封装主体材料PLASTIC/EPOXY
封装代码TFQFP
封装形状SQUARE
封装形式FLATPACK, THIN PROFILE, FINE PITCH
可编程逻辑类型FIELD PROGRAMMABLE GATE ARRAY
认证状态Not Qualified
座面最大高度1.2 mm
最大供电电压1.575 V
最小供电电压1.425 V
标称供电电压1.5 V
表面贴装YES
技术CMOS
温度等级COMMERCIAL
端子形式GULL WING
端子节距0.5 mm
端子位置QUAD
宽度14 mm
Base Number Matches1

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v2.0
Automotive ProASIC
®
3 Flash Family FPGAs
with Grade 2 and Grade 1 AEC-Q100 Support
Features and Benefits
High-Temperature AEC-Q100–Qualified Devices
Grade 2 105°C T
A
(115°C T
J
)
Grade 1 125°C T
A
(135°C T
J
)
PPAP Documentation
Only Automotive FPGAs to Offer Firm-Error Immunity
Can Be Used Without Configuration Upset Risk
60 k to 1 Million System Gates
Up to 144 kbits of SRAM
Up to 300 User I/Os
130-nm, 7-Layer Metal (6 Copper), Flash-Based CMOS
Automotive Process
Live-at-Power-Up (LAPU) Level 0 Support
Single-Chip Solution
Retains Programmed Design When Powered Off
1 kbit of FlashROM with Synchronous Interface
350 MHz System Performance
3.3 V, 66 MHz 64-Bit PCI
Secure ISP Using On-Chip 128-Bit Advanced Encryption
Standard (AES) Decryption via JTAG (IEEE 1532–
compliant)
FlashLock
®
to Secure FPGA Contents (anti-tampering)
®
Low Power
1.5 V Core Voltage
Support for 1.5-V-Only Systems
Low-Impedance Flash Switches
Segmented, Hierarchical Routing and Clock Structure
High-Performance, Low-Skew Global Network
Architecture Supports Ultra-High Utilization
700 Mbps DDR, LVDS-Capable I/Os
1.5 V, 1.8 V, 2.5 V, and 3.3 V Mixed-Voltage Operation
Bank-Selectable I/O Voltages—Up to 4 Banks per Chip
Single-Ended I/O Standards: LVTTL, LVCMOS 3.3 V /
2.5 V / 1.8 V / 1.5 V, 3.3 V PCI / 3.3 V PCI-X, and
LVCMOS 2.5 V / 5.0 V Input
Differential I/O Standards: LVPECL, LVDS, BLVDS, and
M-LVDS (A3P250 and A3P1000)
I/O Registers on Input, Output, and Enable Paths
Hot-Swappable and Cold-Sparing I/Os
Programmable Output Slew Rate and Drive Strength
Weak Pull-Up/-Down
IEEE 1149.1 (JTAG) Boundary Scan Test
Pin-Compatible Packages Across the Automotive
ProASIC3 Family
Six CCC Blocks, One with an Integrated PLL
Configurable Phase Shift, Multiply/Divide, Delay
Capabilities, and External Feedback
Wide Input Frequency Range (1.5 MHz up to 350 MHz)
Variable-Aspect-Ratio 4,608-Bit RAM Blocks (×1, ×2,
×4, ×9, and ×18 Organizations Available)
High-Performance Routing Hierarchy
Firm-Error Immune
High Capacity
Advanced I/O
Reprogrammable Flash Technology
On-Chip User Nonvolatile Memory
High Performance
In-System Programming (ISP) and Security
Clock Conditioning Circuit (CCC) and PLL
SRAMs
Table 1 •
Automotive ProASIC3 Product Family
A3P060
60 k
1,536
18
4
1k
Yes
1
18
2
96
VQ100
FG144
ProASIC3 Devices
System Gates
VersaTiles (D-flip-flops)
RAM kbits (1,024 bits)
4,608-Bit Blocks
FlashROM Bits
Secure (AES) ISP
Integrated PLL in CCCs
VersaNet Globals*
I/O Banks
Maximum User I/Os
Package Pins
VQFP
FBGA
A3P125
125 k
3,072
36
8
1k
Yes
1
18
2
133
VQ100
FG144
A3P250
250 k
6,144
36
8
1k
Yes
1
18
4
157
VQ100
FG144, FG256
A3P1000
1M
24,576
144
32
1k
Yes
1
18
4
300
FG144, FG256, FG484
Note:
*Six chip-wide (main) globals and three additional global networks in each quadrant are available.
August 2007
© 2007 Actel Corporation
i
See the Actel website for the latest version of the datasheet.
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