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RN2108FSTPL3

产品描述Bipolar Transistors - Pre-Biased Transistor PNP, 20V, 0.05A
产品类别半导体    分立半导体   
文件大小159KB,共7页
制造商Toshiba(东芝)
官网地址http://toshiba-semicon-storage.com/
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RN2108FSTPL3概述

Bipolar Transistors - Pre-Biased Transistor PNP, 20V, 0.05A

RN2108FSTPL3规格参数

参数名称属性值
产品种类
Product Category
Bipolar Transistors - Pre-Biased
制造商
Manufacturer
Toshiba(东芝)
ConfigurationSingle
Transistor PolarityPNP
Typical Input Resistor22 kOhms
Typical Resistor Ratio0.468
安装风格
Mounting Style
SMD/SMT
封装 / 箱体
Package / Case
FSM
DC Collector/Base Gain hfe Min120
Collector- Emitter Voltage VCEO Max20 V
Continuous Collector Current- 50 mA
Peak DC Collector Current50 mA
Pd-功率耗散
Pd - Power Dissipation
50 mW
最大工作温度
Maximum Operating Temperature
+ 150 C
DC Current Gain hFE Max120
高度
Height
0.48 mm
长度
Length
0.6 mm
宽度
Width
0.8 mm

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RN2107FS~RN2109FS
TOSHIBA Transistor
Silicon PNP Epitaxial Type (PCT process) (Bias Resistor built-in Transistor)
RN2107FS,RN2108FS,RN2109FS
Switching, Inverter Circuit, Interface Circuit and
Driver Circuit Applications
0.15±0.05
Unit: mm
Incorporating a bias resistor into a transistor reduces parts count.
0.6±0.05
0.35±0.05
Reducing the parts count enable the manufacture of ever more
compact equipment and save assembly cost.
Complementary to RN1107FS to RN1109FS
1
3
2
0.8±0.05
1.0±0.05
0.1±0.05
Equivalent Circuit and Bias Resistor Values
C
Type No.
RN2107FS
RN2108FS
R2
RN2109FS
E
R1 (kΩ)
10
22
47
R2 (kΩ)
47
47
22
0.48
-0.04
+0.02
0.1±0.05
fSM
1.BASE
2.EMITTER
3.COLLECOTR
B
R1
JEDEC
JEITA
TOSHIBA
2-1E1A
Weight: 0.6 mg (typ.)
Absolute Maximum Ratings
(Ta = 25°C)
Characteristics
Collector-base voltage
Collector-emitter voltage
RN2107FS to RN2109FS
RN2107FS
Emitter-base voltage
RN2108FS
RN2109FS
Collector current
Collector power dissipation
Junction temperature
Storage temperature range
RN2107FS to RN2109FS
I
C
P
C
T
j
T
stg
V
EBO
Symbol
V
CBO
V
CEO
Rating
−20
−20
−6
−7
−15
−50
50
150
−55
to 150
mA
mW
°C
°C
V
Unit
V
V
Note: Using continuously under heavy loads (e.g. the application of high temperature/current/voltage and the
significant change in temperature, etc.) may cause this product to decrease in the reliability significantly even if
the operating conditions (i.e. operating temperature/current/voltage, etc.) are within the absolute maximum
ratings.
Please design the appropriate reliability upon reviewing the Toshiba Semiconductor Reliability Handbook
(“Handling Precautions”/“Derating Concept and Methods”) and individual reliability data (i.e. reliability test
report and estimated failure rate, etc).
1
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