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BZT52C16

产品描述齐纳二极管
产品类别分立半导体    二极管   
文件大小3MB,共2页
制造商长电科技(JCET)
官网地址http://www.cj-elec.com/

江苏长电科技股份有限公司专注于半导体封装测试业务,为海内外客户提供芯片测试、封装设计、封装测试等全套解决方案。公司于2003年在上海主板成功上市,成为国内首家半导体封测上市公司,现已拥有国家级企业技术中心、博士后科研工作站,是国家重点高新技术企业、高密度集成电路国家工程实验室依托单位及集成电路封装技术创新战略联盟的理事长单位。

分立器件:二极管(开关二极管,肖特基二极管(肖特基整流管),稳压二极管,Pin二极管,TVS二极管,整流二极管,快恢复二极管);晶体管(达林顿管,数字晶体管,MOSFET);晶闸管:可控硅整流器,三端双向可控硅;复合管:晶体管+场效应管,双晶体管,双数字晶体管,数字晶体管+晶体管,晶体管+二极管,场效应管+二极管,双场效应管。稳压电路;节能灯充电器开关管

引线框架:TO系列(TO);SOD系列(SOD);SOT系列(TSOT,SOT);FBP系列(WBFBP);QFN系列(QFNWB,DFNWB,DFNFC,QFNFC);QFP系列(LQFP:PQFP:PLCC:TQFP);SIP系列(SIP,HSIP,FSIP);SOP系列(SOP,HSOP,SSOP,MSOP,HTSOP,TSSOP);DIP系列(DIP,FDIP,SDIP);PDFN系列;PQFN系列;MIS系列(MISFC,MISWB)

九大核心技术:硅穿孔(TSV)封装技术;SiP射频封装技术;圆片级三维再布线封装工艺技术;铜凸点互连技术;高密度FC-BGA封测技术(Flip Chip BGA);多圈阵列四边无引脚封测技术;封装体三维立体堆叠技术;50μm以下超薄芯片三维立体堆叠封装技术;MEMS多芯片封装技术;MIS封装技术(预包封互联系统);BGA封装技术等。

 

 

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BZT52C16概述

齐纳二极管

功能特点

产品名称:齐纳二极管


产品型号:BZT52C16


产品特征:


Planar Die Construction


350mW Power Dissipation on Ceramic PCB


General Purpose, Medium Current


Ideally Suited for Automated Assembly Processes


Available in Lead Free Version




产品参数:


Pd 耗散功率 :350mW


Vz 稳定电压 :Nom=16V Min=15.3V Max=17.1V


Zzt击穿阻抗 :40Ω


Zzk击穿阻抗 :200Ω


IR 反向电流 :0.1uA


Vf 正向压降:0.9V



封装:SOD-123

BZT52C16规格参数

参数名称属性值
厂商名称长电科技(JCET)
Reach Compliance Codeunknown
ECCN代码EAR99
配置SINGLE
二极管类型ZENER DIODE
最大动态阻抗40 Ω
元件数量1
最高工作温度150 °C
最大功率耗散0.5 W
标称参考电压16 V
表面贴装YES
最大电压容差1.2%
工作测试电流5 mA
Base Number Matches1

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JIANGSU CHANGJIANG ELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD
SOD-123 Plastic-Encapsulate Diodes
BZT52C2V4-BZT52C43
ZENER DIODE
FEATURES:
Planar Die Construction
350mW
Power Dissipation on Ceramic PCB
General Purpose, Medium Current
Ideally Suited for Automated Assembly Processes
Available in Lead Free Version
+
SOD-123
-
Maximum Ratings(T
a
=25℃ unless otherwise specified)
Characteristic
Forward Voltage (Note 2)
Power Dissipation(Note 1)
Thermal Resistance, Junction to Ambient Air
Operating and Storage Temperature Range
Notes:
@ I
F
= 10mA
Symbol
V
F
P
D
R
θJA
T
j
,T
STG
Value
0.9
350
357
-65~ +150
2
Unit
V
mW
/W
1. Device mounted on ceramic PCB: 7.6mm x 9.4mm x 0.87mm with pad areas 25mm
2. Short duration test pulse used to minimize self-heating effect
3. f=1KH
Z
A,Jun,2011

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