Cache Tag SRAM, 16KX4, 25ns, CMOS, CDIP22,
参数名称 | 属性值 |
是否Rohs认证 | 不符合 |
厂商名称 | Quality Semiconductor Inc |
Reach Compliance Code | unknown |
最长访问时间 | 25 ns |
I/O 类型 | COMMON |
JESD-30 代码 | R-GDIP-T22 |
JESD-609代码 | e0 |
内存密度 | 65536 bit |
内存集成电路类型 | CACHE TAG SRAM |
内存宽度 | 4 |
功能数量 | 1 |
端口数量 | 1 |
端子数量 | 22 |
字数 | 16384 words |
字数代码 | 16000 |
工作模式 | ASYNCHRONOUS |
最高工作温度 | 125 °C |
最低工作温度 | -55 °C |
组织 | 16KX4 |
输出特性 | 3-STATE |
可输出 | NO |
封装主体材料 | CERAMIC, GLASS-SEALED |
封装代码 | DIP |
封装等效代码 | DIP24,.3 |
封装形状 | RECTANGULAR |
封装形式 | IN-LINE |
并行/串行 | PARALLEL |
峰值回流温度(摄氏度) | NOT SPECIFIED |
电源 | 5 V |
认证状态 | Not Qualified |
筛选级别 | 38535Q/M;38534H;883B |
最大待机电流 | 0.02 A |
最小待机电流 | 4.5 V |
最大压摆率 | 0.13 mA |
最大供电电压 (Vsup) | 5.5 V |
最小供电电压 (Vsup) | 4.5 V |
标称供电电压 (Vsup) | 5 V |
表面贴装 | NO |
技术 | CMOS |
温度等级 | MILITARY |
端子面层 | Tin/Lead (Sn/Pb) |
端子形式 | THROUGH-HOLE |
端子节距 | 2.54 mm |
端子位置 | DUAL |
处于峰值回流温度下的最长时间 | NOT SPECIFIED |
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