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CS12N65FA9H

产品描述漏源电压(Vdss):650V 连续漏极电流(Id)(25°C 时):12A(Tc) 栅源极阈值电压:4V @ 250uA 漏源导通电阻:700mΩ @ 6A,10V 最大功率耗散(Ta=25°C):55W(Tc) 类型:N沟道 N沟道 650V 12A
产品类别分立半导体    MOS(场效应管)   
文件大小223KB,共10页
制造商华润华晶
官网地址http://www.crhj.com.cn/cn/index.php
无锡华润华晶微电子有限公司,是华润微电子旗下负责功率半导体器件业务的国家重点高新技术企业,中国半导体协会分立器件分会副理事长单位,生产国内著名的“华晶”牌分立器件。
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CS12N65FA9H概述

漏源电压(Vdss):650V 连续漏极电流(Id)(25°C 时):12A(Tc) 栅源极阈值电压:4V @ 250uA 漏源导通电阻:700mΩ @ 6A,10V 最大功率耗散(Ta=25°C):55W(Tc) 类型:N沟道 N沟道 650V 12A

CS12N65FA9H规格参数

参数名称属性值
漏源电压(Vdss)650V
连续漏极电流(Id)(25°C 时)12A(Tc)
栅源极阈值电压4V @ 250uA
漏源导通电阻700mΩ @ 6A,10V
最大功率耗散(Ta=25°C)55W(Tc)
类型N沟道

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Silicon
N-Channel
Power MOSFET
R
CS12N65F A9H
General Description
CS12N65F A9H, the silicon N-channel Enhanced
VDMOSFETs, is obtained by the self-aligned planar
Technology which reduce the conduction loss, improve
switching performance and enhance the avalanche energy. The
transistor can be used in various power switching circuit for
system miniaturization and higher efficiency. The package form
is TO-220F, which accords with the RoHS standard.
V
DSS
I
D
P
D
(T
C
=25℃)
R
DS(ON)Typ
650
12
55
0.54
V
A
W
Features:
l
Fast Switching
l
Low ON Resistance
(Rdson≤0.7Ω)
l
Low Gate Charge
(Typical Data:44nC)
l
Low Reverse transfer capacitances
(Typical:16pF)
l
100% Single Pulse avalanche energy Test
Applications
Power switch circuit of adaptor and charger.
Absolute
(Tc=
25℃ unless otherwise specified)
Symbol
V
DSS
I
D
I
DM
a1
Parameter
Drain-to-Source Voltage
Continuous Drain Current
Continuous Drain Current T
C
= 100
°C
Pulsed Drain Current
Gate-to-Source Voltage
Rating
650
12
10
48
±30
700
100
4.5
5.0
55
0.44
150,–55 to 150
300
Units
V
A
A
A
V
mJ
mJ
A
V/ns
W
W/℃
V
GS
E
AS
E
AR
I
AR
a2
a1
Single Pulse Avalanche Energy
Avalanche Energy ,Repetitive
Avalanche Current
a1
a3
dv/dt
P
D
Peak Diode Recovery dv/dt
Power Dissipation
Derating Factor above 25°C
Operating Junction and Storage Temperature Range
Maximum Temperature for Soldering
T
J
,T
stg
T
L
W U X I C H I N A R E S O U R C E S H U A J I N G M I C R O E L E C T R O N I C S C O . , LT D .
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