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VBM1202M

产品描述漏源电压(Vdss):200V 连续漏极电流(Id)(25°C 时):14A 栅源极阈值电压:3V @ 250uA 漏源导通电阻:250mΩ @ 11A,10V 最大功率耗散(Ta=25°C):110W 类型:-
产品类别分立半导体    MOS(场效应管)   
文件大小700KB,共8页
制造商台湾微碧(VBsemi)
官网地址http://www.vbsemi.tw/
VBsemi成立于2000年,是国内MOSFET最具竞争力之功率半导体组件制造厂。本公司已取得多项产品发明专利,并经ISO14001、QS9000、ISO9001认证。 VBsemi是台湾一家自行研发、生产、销售MOSFET自有品牌的公司。从组件设计、晶圆加工、封装、特性分析、测试全程作业以及客户服务,营销全球。本公司产品已被广泛应用于UPS、Power Inverter、CCFL、DC Fan、SMPS、Adapter、Lighting、Battery、DC-DC、LCD Monitor等领域。
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VBM1202M概述

漏源电压(Vdss):200V 连续漏极电流(Id)(25°C 时):14A 栅源极阈值电压:3V @ 250uA 漏源导通电阻:250mΩ @ 11A,10V 最大功率耗散(Ta=25°C):110W 类型:-

VBM1202M规格参数

参数名称属性值
漏源电压(Vdss)200V
连续漏极电流(Id)(25°C 时)14A
栅源极阈值电压3V @ 250uA
漏源导通电阻250mΩ @ 11A,10V
最大功率耗散(Ta=25°C)110W

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VBM1202M
www.VBsemi.com
Power MOSFET
PRODUCT SUMMARY
V
DS
(V)
R
DS(on)
()
Q
g
max. (nC)
Q
gs
(nC)
Q
gd
(nC)
Configuration
V
GS
= 10 V
70
13
39
Single
200
0.20
FEATURES
Surface mount
Low-profile through-hole
Available in tape and reel
Dynamic dV/dt rating
150 °C operating temperature
Fast switching
Fully avalanche rated
Available
TO-220AB
D
G
DRAIN connected to TAB
S
G D S
Top
View
N-Channel MOSFET
ABSOLUTE MAXIMUM RATINGS
(T
C
= 25 °C, unless otherwise noted)
PARAMETER
Drain-Source Voltage
Gate-Source Voltage
Continuous Drain Current
Pulsed Drain Current
a, e
Linear Derating Factor
Single Pulse Avalanche Energy
b, e
Avalanche Current
a
Repetitive Avalanche Energy
a
Maximum Power Dissipation
Peak Diode Recovery dV/dt
c, e
Operating Junction and Storage Temperature Range
Soldering Recommendations (Peak temperature)
d
T
C
= 25 °C
T
A
= 25 °C
V
GS
at 10 V
T
C
= 25 °C
T
C
= 100 °C
SYMBOL
V
DS
V
GS
I
D
I
DM
E
AS
I
AR
E
AR
P
D
dV/dt
T
J
, T
stg
for 10 s
LIMIT
200
± 20
14
10
56
1.0
580
15
13
110
3.1
5.0
-55 to +150
300
UNIT
V
A
W/°C
mJ
A
mJ
W
V/ns
°C
Notes
a. Repetitive rating; pulse width limited by maximum junction temperature (see fig. 11).
b. V
DD
= 50 V, starting T
J
= 25 °C, L = 2.7 mH, R
g
= 25
,
I
AS
= 18 A (see fig. 12).
c. I
SD
18 A, dI/dt
150 A/μs, V
DD
V
DS
, T
J
150 °C.
d. 1.6 mm from case.
e. Uses IRF640, SiHF640 data and test conditions.
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