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FDN327N

产品描述漏源电压(Vdss):20V 连续漏极电流(Id)(25°C 时):3A 栅源极阈值电压:1.3V @ 250uA 漏源导通电阻:80mΩ @ 3A,4.5V 最大功率耗散(Ta=25°C):- 类型:N沟道
产品类别分立半导体    MOS(场效应管)   
文件大小549KB,共4页
制造商时科(SHIKUES)
官网地址http://www.shike.tw
时科,源自中国台湾,全球知名的半导体分立元器件厂商之一,主要提供工程师与设计人员各种半导体产品与软件,为汽车、通信、计算机、消费电子、工业、LED照明、医疗及电源应用等产品带来更优质的感知体验。自创办以来,在“让产品拥有良芯”的核心理念指导下,以安全、低能耗、高性能为宗旨,时科半导体的研发战略从来没有动摇过,近四分之一的员工在研发与产品设计领域工作,每年研发费用占总收入的22%左右,加之年轻的、充满梦想和激情的员工的艰苦奋斗,时科迅速发展,产品远销到北美、欧洲和亚太地区,被认为是半导体行业最具创新力的公司之一。时科将会在安全、能耗和性能方面不断优化,更加灵活地满足设计工程师和不断变化的市场需要,从概念设计到生产制造,我们将提供全程支持。展望未来,我们将立足创新,不断为客户、员工和全社会创造价值,通过降低能耗、改善安全,提升性能,重点关注如何利用技术研发改善公众生活品质,我们将全力以赴,践行承诺。
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FDN327N概述

漏源电压(Vdss):20V 连续漏极电流(Id)(25°C 时):3A 栅源极阈值电压:1.3V @ 250uA 漏源导通电阻:80mΩ @ 3A,4.5V 最大功率耗散(Ta=25°C):- 类型:N沟道

FDN327N规格参数

参数名称属性值
漏源电压(Vdss)20V
连续漏极电流(Id)(25°C 时)3A
栅源极阈值电压1.3V @ 250uA
漏源导通电阻80mΩ @ 3A,4.5V
类型N沟道

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FDN327N
N-Channel Enhancement
Feature
Mode MOSFET
@V
GS
= 4.5V.
@V
GS
= 2.5V.
20V/3.0A,
R
DS(ON)
= 80mΩ(MAX)
R
DS(ON)
= 90mΩ(MAX)
Super High dense cell design for extremely low R
DS(ON) .
Reliable and Rugged.
SOT-23 for Surface Mount Package.
A
pplications
SOT-23
Power Management
Portable Equipment and Battery Powered Systems.
Absolute Maximum Ratings
Parameter
Drain-Source Voltage
Gate-Source Voltage
Drain Current-Continuous
T
A
=25℃
Unless Otherwise noted
Symbol
V
DS
V
GS
I
D
Limit
20
±8
3.0
Units
V
V
A
Electrical Characteristics
Parameter
Off Characteristics
Drain to Source Breakdown Voltage
Zero-Gate Voltage Drain Current
Gate Body Leakage Current, Forward
Gate Body Leakage Current, Reverse
BVDSS
IDSS
IGSSF
IGSSR
T
A
=25℃
Symbol
Unless Otherwise noted
Test Conditions
Min
Typ.
Max
Units
VGS=0V, ID=250µA
VDS=12V, VGS=0V
VGS=8V, VDS=0V
VGS=-8V, VDS=0V
20
-
-
-
-
-
-
-
-
1
100
-100
V
µA
nA
nA
On Characteristics
Gate Threshold Voltage
Static Drain-source
RDS(ON)
On-Resistance
VGS =2.5V, ID =2.8A
-
75
90
VGS(th)
VGS= VDS, ID=250µA
VGS =4.5V, ID =3.0A
0.4
-
-
70
1.3
80
V
Drain-Source Diode Characteristics and Maximum Ratings
Drain-Source Diode Forward Voltage
VSD
VGS =0V, IS=0.94A
1.2
V
REV.08
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