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CJ3439KDW

产品描述漏源电压(Vdss):20V 连续漏极电流(Id)(25°C 时):750mA,660mA 栅源极阈值电压:1.1V @ 250uA 漏源导通电阻:520mΩ @ 1A,4.5V 最大功率耗散(Ta=25°C):- 类型:N沟道和P沟道 双沟道,N沟道20V,0.75A,380mΩ@4.5V;P沟道:-20V,-0.66A,520mΩ@-4.5V
产品类别分立半导体    MOS(场效应管)   
文件大小1000KB,共6页
制造商长电科技(JCET)
官网地址http://www.cj-elec.com/

江苏长电科技股份有限公司专注于半导体封装测试业务,为海内外客户提供芯片测试、封装设计、封装测试等全套解决方案。公司于2003年在上海主板成功上市,成为国内首家半导体封测上市公司,现已拥有国家级企业技术中心、博士后科研工作站,是国家重点高新技术企业、高密度集成电路国家工程实验室依托单位及集成电路封装技术创新战略联盟的理事长单位。

分立器件:二极管(开关二极管,肖特基二极管(肖特基整流管),稳压二极管,Pin二极管,TVS二极管,整流二极管,快恢复二极管);晶体管(达林顿管,数字晶体管,MOSFET);晶闸管:可控硅整流器,三端双向可控硅;复合管:晶体管+场效应管,双晶体管,双数字晶体管,数字晶体管+晶体管,晶体管+二极管,场效应管+二极管,双场效应管。稳压电路;节能灯充电器开关管

引线框架:TO系列(TO);SOD系列(SOD);SOT系列(TSOT,SOT);FBP系列(WBFBP);QFN系列(QFNWB,DFNWB,DFNFC,QFNFC);QFP系列(LQFP:PQFP:PLCC:TQFP);SIP系列(SIP,HSIP,FSIP);SOP系列(SOP,HSOP,SSOP,MSOP,HTSOP,TSSOP);DIP系列(DIP,FDIP,SDIP);PDFN系列;PQFN系列;MIS系列(MISFC,MISWB)

九大核心技术:硅穿孔(TSV)封装技术;SiP射频封装技术;圆片级三维再布线封装工艺技术;铜凸点互连技术;高密度FC-BGA封测技术(Flip Chip BGA);多圈阵列四边无引脚封测技术;封装体三维立体堆叠技术;50μm以下超薄芯片三维立体堆叠封装技术;MEMS多芯片封装技术;MIS封装技术(预包封互联系统);BGA封装技术等。

 

 

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CJ3439KDW概述

漏源电压(Vdss):20V 连续漏极电流(Id)(25°C 时):750mA,660mA 栅源极阈值电压:1.1V @ 250uA 漏源导通电阻:520mΩ @ 1A,4.5V 最大功率耗散(Ta=25°C):- 类型:N沟道和P沟道 双沟道,N沟道20V,0.75A,380mΩ@4.5V;P沟道:-20V,-0.66A,520mΩ@-4.5V

CJ3439KDW规格参数

参数名称属性值
漏源电压(Vdss)20V
连续漏极电流(Id)(25°C 时)750mA,660mA
栅源极阈值电压1.1V @ 250uA
漏源导通电阻520mΩ @ 1A,4.5V
类型N沟道和P沟道

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JIANGSU CHANGJIANG ELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD
SOT-363 Plastic-Encapsulate MOSFETS
CJ3439KDW
V
(BR)DSS
20
V
 
N channel+P Channel MOSFET
R
DS(on)
MAX
380mΩ
@
4.5V
 
450mΩ
@
2.5V 
520mΩ
@
-4.5V 
700mΩ
@
-2.5V 
-0.66A
800mΩ
@
1.8V 
 
0.75A
I
D
SOT-363
-20
V
 
950mΩ(TYP)
@
-1.8V 
 
FEATURE
Surface Mount Package
Low R
DS
(on)
Operated at Low Logic Level Gate Drive
ESD Protected Gate
Including a N-ch CJ3134K and a P-ch CJ3139K
(independently) In a Package
MARKING
APPLICATION
Load/ Power Switching
Interfacing Switching
Battery Management for Ultra Small Portable Electronics
Logic Level Shift
Equivalent Circuit
D1
6
G2
5
S2
4
1
S1
2
G1
3
D2
ABSOLUTE MAXIMUM RATINGS (T
a
=25℃ unless otherwise noted)
Parameter
N-MOSFET
Drain-Source Voltage
Typical
Gate-Source Voltage
Continuous Drain Current (note 1)
Pulsed Drain Current (tp=10us)
P-MOSFET
Drain-Source Voltage
Typical
Gate-Source Voltage
Continuous Drain Current (note 1)
Pulsed Drain Current (tp=10us)
Temperature and Thermal Resistance
Thermal Resistance from Junction to Ambient
(note 1)
Junction Temperature
Storage Temperature
Lead Temperature for Soldering Purposes(1/8’’ from case for 10 s)
R
θJA
T
J
T
STG
T
L
833
150
-55~+150
260
℃/W
V
DS
V
GS
I
D
I
DM
-20
±12
-0.66
-1.2
V
V
A
A
V
DS
V
GS
I
D
I
DM
20
±12
0.75
1.8
V
V
A
A
Symbol
Value
Unit
www.cj-elec.com
1
D,Mar,2016
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