厂商名称:ON Semiconductor



350 W, 双向, 2 组成, , 瞬态抑制二极管, TO-236AB


NUP2105L_05端子数量 3
NUP2105L_05元件数量 2
NUP2105L_05最大击穿电压 32 V
NUP2105L_05最小击穿电压 26.2 V
NUP2105L_05加工封装描述 铅 FREE, CASE 318-08, TO-236, 3 PIN
NUP2105L_05无铅 Yes
NUP2105L_05欧盟RoHS规范 Yes
NUP2105L_05中国RoHS规范 Yes
NUP2105L_05状态 ACTIVE
NUP2105L_05包装形状 矩形的
NUP2105L_05表面贴装 Yes
NUP2105L_05端子形式 GULL WING
NUP2105L_05端子涂层 MATTE 锡
NUP2105L_05包装材料 塑料/环氧树脂
NUP2105L_05壳体连接 CATHODE
NUP2105L_05极性 双向
NUP2105L_05二极管类型 TRANS 电压 SUPPRESSOR 二极管
NUP2105L_05关闭电压 24 V
NUP2105L_05最大非重复峰值转速功率 350 W




Dual Line CAN                                                             
Bus Protector
  The NUP2105L has been designed to protect the CAN transceiver in        DUAL BIDIRECTIONAL
high-speed and fault tolerant networks from ESD and other harmful        VOLTAGE SUPPRESSOR
transient voltage events. This device provides bidirectional protection    350 W PEAK POWER
for each data line with a single compact SOT-23 package, giving the
system designer a low cost option for improving system reliability and      PIN 1                        PIN 3
meeting stringent EMI requirements.                                         PIN 2

Features                                                                     CAN      CAN_H        CAN Bus
                                                                         Transceiver  CAN_L               NUP2105L
350 W Peak Power Dissipation per Line (8 x 20 msec Waveform)
Low Reverse Leakage Current (< 100 nA)                                                           MARKING
Low Capacitance High-Speed CAN Data Rates                                                        DIAGRAM
IEC Compatibility: - IEC 61000-4-2 (ESD): Level 4
                                                                          SOT-23                          27EMG
                           - IEC 61000-4-4 (EFT): 40 A 5/50 ns         CASE 318                             G
                           - IEC 61000-4-5 (Lighting) 8.0 A (8/20 ms)    STYLE 27
ISO 7637-1, Nonrepetitive EMI Surge Pulse 2, 9.5 A

   (1 x 50 ms)

ISO 7637-3, Repetitive Electrical Fast Transient (EFT)

   EMI Surge Pulses, 50 A (5 x 50 ns)

Flammability Rating UL 94 V-0
Pb-Free Packages are Available


Industrial Control Networks

    Smart Distribution Systems (SDSTM)

Automotive Networks

    Low and High-Speed CAN
    Fault Tolerant CAN

                                                                         27E = Device Code

                                                                         M            = Date Code

                                                                         G            = Pb-Free Package

                                                                         (Note: Microdot may be in either location)

                                                                            ORDERING INFORMATION

                                                                         Device       Package            Shipping

                                                                         NUP2105LT1 SOT-23 3000/Tape & Reel

                                                                         NUP2105LT1G   SOT-23      3000/Tape & Reel
                                                                         NUP2105LT3   (Pb-Free)    10000/Tape & Reel


                                                                         NUP2105LT3G SOT-23 10000/Tape & Reel

                                                                         For information on tape and reel specifications,
                                                                          including part orientation and tape sizes, please
                                                                          refer to our Tape and Reel Packaging Specification
                                                                          Brochure, BRD8011/D.

Semiconductor Components Industries, LLC, 2005  1                                   Publication Order Number:
July, 2005 - Rev. 4

MAXIMUM RATINGS (TJ = 25C, unless otherwise specified)

Symbol                                         Rating                            Value            Unit

PPK Peak Power Dissipation                                                                                 W
            8 x 20 ms Double Exponential Waveform (Note 1)                       350

TJ     Operating Junction Temperature Range                                     -55 to 150       C
TL     Storage Temperature Range                                                -55 to 150       C
        Lead Solder Temperature (10 s)                                           260              C

        Human Body model (HBM)                                                   16               kV
        Machine Model (MM)
        IEC 61000-4-2 Specification (Contact)                                    400              V

                                                                                 30               kV

Maximum ratings are those values beyond which device damage can occur. Maximum ratings applied to the device are individual stress limit
values (not normal operating conditions) and are not valid simultaneously. If these limits are exceeded, device functional operation is not im-
plied, damage may occur and reliability may be affected.
1. Non-repetitive current pulse per Figure 1.

ELECTRICAL CHARACTERISTICS (TJ = 25C, unless otherwise specified)

Symbol  Parameter                              Test Conditions        Min   Typ              Max  Unit

VRWM Reverse Working Voltage     (Note 2)                             24                          V

VBR Breakdown Voltage            IT = 1 mA (Note 3)                   26.2                   32   V

IR      Reverse Leakage Current  VRWM = 24 V                                15               100  nA

VC      Clamping Voltage         IPP = 5 A (8 x 20 ms Waveform)                              40   V
                                 (Note 4)

VC      Clamping Voltage         IPP = 8 A (8 x 20 ms Waveform)                              44   V
                                 (Note 4)

IPP Maximum Peak Pulse Current   8 x 20 ms Waveform (Note 4)                                 8.0  A

CJ Capacitance                   VR = 0 V, f = 1 MHz (Line to GND)                           30   pF

2. TVS devices are normally selected according to the working peak reverse voltage (VRWM), which should be equal or greater than the DC
    or continuous peak operating voltage level.

3. VBR is measured at pulse test current IT.
4. Pulse waveform per Figure 1.


                                                                              TYPICAL PERFORMANCE CURVES

                                                                                      (TJ = 25C unless otherwise noted)

                              110                                                                                              12.0
% OF PEAK PULSE CURRENT                                                           WAVEFORM        IPP, PEAK PULSE CURRENT (A)            PULSE WAVEFORM
                               80                                                 PARAMETERS                                   10.0 8 x 20 ms per Figure 1
                               70                                                 tr = 8 ms
                               50                                                 td = 20 ms                                   8.0
                               30                        c-t
                               10                               td = IPP/2                                                     6.0

                                 0                                                                                             4.0

                                        5            10         15            20     25       30                               0.0   25  30  35                    40        45  50

                                                                t, TIME (ms)                                                                 VC, CLAMPING VOLTAGE (V)

                                      Figure 1. Pulse Waveform, 8 20 ms                                                      Figure 2. Clamping Voltage vs Peak Pulse Current

                              35                                                                                               50

                                                                f = 1.0 MHz, Line to Ground                                    45

C, CAPACITANCE (pF)           30                                                                                               40

                              25        25C                                                      IT, (mA)                     30

                                                                                                                               25            25C

                              20 -40C                                                                                         20                                      65C

                                                                                                                               10                                            TA = +150C


                              10  0           2          4          6             8           10                               0
                                                                                                                                 20 22 24 26 28 30 32 34

                                                 VR, REVERSE VOLTAGE (V)                                                                              VBR, VOLTAGE (V)

                                      Figure 3. Typical Junction Capacitance vs                                                Figure 4. VBR versus IT Characteristics of the
                                                        Reverse Voltage                                                                                NUP2105L

                              25                                                                                               120
                              20              +25C                                                                            100

                                                                TA = +150C                       PERCENT DERATING (%)

                                      +65C                                                                                    80





                              5                                                                                                20

                              0                                                                                                0
                                                                                                                               -60 -30
                                  0     2            4          6             8      10       12                                             0 30 60 90                120 150 180
                                                                                                                                              TEMPERATURE (C)
                                              IL, LEAKAGE CURRENT (nA)

                              Figure 5. IR versus Temperature Characteristics of                  Figure 6. Temperature Power Dissipation Derating of
                                                       the NUP2105L                                                          the NUP2501L



Background                                                    ESD. The NUP2105L has been tested to EMI and ESD
  The Controller Area Network (CAN) is a serial               levels that exceed the specifications of popular high speed
                                                              CAN networks.
communication protocol designed for providing reliable
high speed data transmission in harsh environments. TVS       CAN Physical Layer Requirements
diodes provide a low cost solution to conducted and radiated    Table 1 provides a summary of the system requirements
Electromagnetic Interference (EMI) and Electrostatic
Discharge (ESD) noise problems. The noise immunity level      for a CAN transceiver. The ISO 11898-2 physical layer
and reliability of CAN transceivers can be easily increased   specification forms the baseline for most CAN systems. The
by adding external TVS diodes to prevent transient voltage    transceiver requirements for the Honeywell Smart
failures.                                                     Distribution Systems (SDS) and Rockwell
                                                              (Allen-Bradley) DeviceNetTM high speed CAN networks
  The NUP2105L provides a transient voltage suppression       are similar to ISO 11898-2. The SDS and DeviceNet
solution for CAN data communication lines. The                transceiver requirements are similar to ISO 11898-2;
NUP2105L is a dual bidirectional TVS device in a compact      however, they include minor modifications required in an
SOT-23 package. This device is based on Zener technology      industrial environment.
that optimizes the active area of a PN junction to provide
robust protection against transient EMI surge voltage and

Table 1. Transceiver Requirements for High-Speed CAN Networks

Parameter                ISO 11898-2                          SDS Physical Layer          DeviceNet
                                                              Specification 2.0           Same as ISO 11898-2

Min / Max Bus Voltage    -3.0 V / 16 V                        11 V / 25 V                 Same as ISO 11898-2
(12 V System)
                                                                                          500 kb/s @ 100 m
Common Mode Bus Voltage  CAN_L:                                                           125 kb/s @ 500 m
                                      -2.0 V (min)                                        Not specified, recommended
                                      2.5 V (nom)             Same as ISO 11898-2         w $8.0 kV (contact)
                                                                                          Same as ISO 11898-2
                         CAN_H:                                                           Industrial Control Systems
                                      2.5 V (nom)
                                      7.0 V (max)

Transmission Speed       1.0 Mb/s @ 40 m                      Same as ISO 11898-2
                         125 kb/s @ 500 m

ESD                      Not specified, recommended           Not specified, recommended
                         w $8.0 kV (contact)                  w $8.0 kV (contact)

EMI Immunity             ISO 7637-3, pulses `a' and `b' IEC 61000-4-4 EFT

Popular Applications     Automotive, Truck, Medical           Industrial Control Systems
                         and Marine Systems


EMI Specifications                                                61000-4 and ISO 7637 tests are similar; however, the IEC
  The EMI protection level provided by the TVS device can         standard was created as a generic test for any electronic
                                                                  system, while the ISO 7637 standard was designed for
be measured using the International Organization for              vehicular applications. The IEC61000-4-4 Electrical Fast
Standardization (ISO) 7637-1 and -3 specifications that are       Transient (EFT) specification is similar to the ISO 7637-1
representative of various noise sources. The ISO 7637-1           pulse 1 and 2 tests and is a requirement of SDS CAN
specification is used to define the susceptibility to coupled     systems. The IEC 61000-4-5 test is used to define the power
transient noise on a 12 V power supply, while ISO 7637-3          absorption capacity of a TVS device and long duration
defines the noise immunity tests for data lines. The ISO 7637     voltage transients such as lightning. Table 2 provides a
tests also verify the robustness and reliability of a design by   summary of the ISO 7637 and IEC 61000-4-X test
applying the surge voltage for extended durations.                specifications. Table 3 provides the NUP2105L's ESD
                                                                  test results.
  The IEC 61000-4-X specifications can also be used to
quantify the EMI immunity level of a CAN system. The IEC

Table 2. ISO 7637 and IEC 61000-4-X Test Specifications

Test                     Waveform   Test Specifications                    NUP2105L Test            Simulated Noise Source

                         Pulse 1       Vs = 0 to -100 V                       Imax = 1.75 A         DUT in parallel with
                                           Imax = 10 A                     Vclamp_max = 31 V        inductive load that is
                                                                        tduration = 5000 pulses     disconnected from power
                                    tduration = 5000 pulses                                         supply.
                                                                         Ri = 10 W, tr = 1.0 ms,
ISO 7637-1                                                           td_10% = 2000 ms, t1 = 2.5 s,

                                                                       t2 = 200 ms, t3 = 100 ms

12 V Power Supply Lines                Vs = 0 to +100 V                       Imax = 9.5 A          DUT in series with inductor
                                           Imax = 10 A                   Vclamp_max = 33 V          that is disconnected.
                                                                       tduration = 5000 pulses
                         Pulse 2    tduration = 5000 pulses
                                                                       Ri = 10 W, tr = 1.0 ms,
                                                                     td_10% = 50 ms, t1 = 2.5 s,

                                                                              t2 = 200 ms

                         Pulse `a'        Vs = -60 V                            Imax = 50 A         Switching noise of inductive
                         Pulse `b'       Imax = 1.2 A                      Vclamp_max = 40 V        loads.
                                                                          tduration = 60 minutes
ISO 7637-3                          tduration = 10 minutes
Data Line EFT                                                            Ri = 50 W, tr = 5.0 ns,
                                          Vs = +40 V                 td_10% = 0.1 ms, t1 = 100 ms,
                                         Imax = 0.8 A
                                                                         t2 = 10 ms, t3 = 90 ms

                                    tduration = 10 minutes

                                         Vopen circuit = 2.0 kV            (Note 2)                 Switching noise of inductive
                                          Ishort circuit = 40 A                                     loads.

IEC 61000-4-4                       (Level 4 = Severe Industrial


Data Line EFT                            Ri = 50 W, tr < 5.0 ns,
                                    td_50% = 50 ns, tburst = 15 ms,

                                         fburst = 2.0 to 5.0 kHz,
                                             trepeat = 300 ms

                                           tduration = 1 minute

IEC 61000-4-5                       Vopen circuit = 1.2 x 50 ms,                                    Lightning, nonrepetitive
                                      Ishort circuit = 8 x 20 ms                                    power line and load
                                              Ri = 50 W                                             switching

1. DUT = device under test.
2. The EFT immunity level was measured with test limits beyond the IEC 61000-4-4 test, but with the more severe test conditions of

    ISO 7637-3.

Table 3. NUP2105L ESD Test Results

ESD Specification                                 Test                          Test Level                Pass / Fail
                                                                     16 kV
Human Body Model         Contact                                     30 kV (Note 3)                 Pass
                                                                     30 kV (Note 3)                 Pass
IEC 61000-4-2            Contact                                                                    Pass
                         Non-contact (Air Discharge)

3. Test equipment maximum test voltage is 30 kV.


TVS Diode Protection Circuit                                voltage of the diode that is reversed biased, plus the diode
  TVS diodes provide protection to a transceiver by         drop of the second diode that is forwarded biased.

clamping a surge voltage to a safe level. TVS diodes have       CAN      CAN_H  CAN Bus
high impedance below and low impedance above their          Transceiver  CAN_L
breakdown voltage. A TVS Zener diode has its junction
optimized to absorb the high peak energy of a transient                         NUP2105L
event, while a standard Zener diode is designed and
specified to clamp a steady state voltage.                  Figure 7. High-Speed and Fault Tolerant CAN TVS
                                                                                   Protection Circuit
  Figure 7 provides an example of a dual bidirectional
TVS diode array that can be used for protection with the
high-speed CAN network. The bidirectional array is created
from four identical Zener TVS diodes. The clamping
voltage of the composite device is equal to the breakdown

                            PACKAGE DIMENSIONS

                                   SOT-23 (TO-236)
                                     CASE 318-08
                                        ISSUE AL

      D                                               NOTES:
                                                       1. DIMENSIONING AND TOLERANCING PER ANSI
         3                                                  Y14.5M, 1982.
                                                       2. CONTROLLING DIMENSION: INCH.
   1        2      E HE                                3. MAXIMUM LEAD THICKNESS INCLUDES LEAD
                                                            FINISH THICKNESS. MINIMUM LEAD
                                                            THICKNESS IS THE MINIMUM THICKNESS OF
                                                            BASE MATERIAL.
                                                       4. 318-01 THRU -07 AND -09 OBSOLETE, NEW
                                                            STANDARD 318-08.

                                                                    MILLIMETERS                    INCHES
      e                                               DIM MIN       NOM MAX                  MIN    0.040   MAX
                                                                                            0.035   0.002   0.044
                                                      A 0.89              1.00        1.11  0.001   0.018   0.004
                                                                                            0.015   0.005   0.020
                                                      A1 0.01             0.06        0.10  0.003    0.114  0.007
                                                                                            0.110   0.051   0.120
                                                      b 0.37              0.44        0.50  0.047   0.075   0.055
                                                                                            0.070   0.021   0.081
                                                      c       0.09        0.13        0.18  0.014   0.094   0.029
                                                                                            0.083           0.104
                   A                                  D 2.80              2.90        3.04

                                                      E 1.20              1.30        1.40

                                                      e       1.78        1.90        2.04

b              A1        L         C                  L 0.35              0.54        0.69

                                                      H E 2.10            2.40        2.64

                                                      STYLE 27:
                                                        PIN 1. CATHODE
                                                              2. CATHODE
                                                              3. CATHODE

                            SOLDERING FOOTPRINT*

                         0.95         0.95
                         0.037        0.037




                                        SCALE 10:1

                   *For additional information on our Pb-Free strategy and soldering
                    details, please download the ON Semiconductor Soldering and
                    Mounting Techniques Reference Manual, SOLDERRM/D.


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